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作者昵称:城外南风起
原文链接:BT级别的IC项目验证基本流程
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芯片验证按项目规模可分为:BT(Block Test)、IT(Integrated Test)、ST(System Test)。
本文仅针对BT级别的项目验证流程进行简单总结。
流程如下:
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作为方案书的一部分:分解测试点,给出测试点表单。个人认为,这部分是验证工程师的核心工作所在。需要谨慎、完备地将spec需求分解为独立的、不可再分的点,并给出拟采用的覆盖方式(测试用例覆盖、断言覆盖、收覆盖率),在分解时需注意典型值、边界值、特殊值。
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根据spec给出验证方案书:包括拟采用的验证方法学、验证环境框架及组件、工作环境目录构成、分解好的测试点表单及对应的测试用例、白盒探针、激励构成、RM伪代码等等,尽可能做到细致。
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搭建验证环境
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跑通冒烟用例(sanity case)
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依次跑通其他测试用例(test cases)
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回归
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与第6步同步进行:覆盖率收集、测试点反标
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覆盖率分析
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查看报告,修改验证方案或设计代码
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重复6至9步
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木叶飞舞之处,火亦生生不息。