BT级别的IC项目验证基本流程

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作者昵称:城外南风起

原文链接:BT级别的IC项目验证基本流程

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芯片验证按项目规模可分为:BT(Block Test)、IT(Integrated Test)、ST(System Test)。

本文仅针对BT级别的项目验证流程进行简单总结。

流程如下:

  1. 作为方案书的一部分:分解测试点,给出测试点表单。个人认为,这部分是验证工程师的核心工作所在。需要谨慎、完备地将spec需求分解为独立的、不可再分的点,并给出拟采用的覆盖方式(测试用例覆盖、断言覆盖、收覆盖率),在分解时需注意典型值、边界值、特殊值。

  2. 根据spec给出验证方案书:包括拟采用的验证方法学、验证环境框架及组件、工作环境目录构成、分解好的测试点表单及对应的测试用例、白盒探针、激励构成、RM伪代码等等,尽可能做到细致。

  3. 搭建验证环境

  4. 跑通冒烟用例(sanity case)

  5. 依次跑通其他测试用例(test cases)

  6. 回归

  7. 与第6步同步进行:覆盖率收集、测试点反标

  8. 覆盖率分析

  9. 查看报告,修改验证方案或设计代码

  10. 重复6至9步

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