MOSFET开关过程分析与损耗计算

        文章来源:Buck变换器MOSFET开关过程分析与损耗计算   

        为了方便理解MOSFET的开关过程及其损耗,以Buck变换器为研究对象进行说明(注:仅限于对MOSFET及其驱动进行分析,不涉及二极管反向恢复等损耗。)

        图1所示为Buck变换器拓扑,其中\textsl{C}_{\textrm{in}}用于减小主功率电路的AC Loop,实际使用视Layout情况决定是否需要添加。  

        图2所示为MOSFET的开关时序及相应\textsl{V}_{\textrm{GS}}\textsl{I}_{\textrm{GS}}\textsl{V}_{\textrm{DS}}\textsl{I}_{\textrm{DS}}波形,其中: 

        \textsl{Q}_{\textrm{GS1}}\textsl{V}_{\textrm{DS}}下降之前MOSFET开始导通所需的电荷量。

        \textsl{Q}_{\textrm{GS2}}\textsl{V}_{\textrm{DS}}下降之前MOSFET的栅极电压从阈值电压\textsl{V}_{\textrm{GS(th)}}升到Miller平台电压\textsl{V}_{\textrm{GS(miller)}}所需的电荷量。

        \textsl{Q}_{\textrm{GD}}\textsl{V}_{\textrm{DS}}开始下降阶段为MOSFET反馈电容\textsl{C}_{\textrm{GD}}充电所需电荷量。

        \textsl{Q}_{\textrm{SW}}\textsl{V}_{\textrm{GS}}从到达阈值电压\textsl{V}_{\textrm{GS(th)}}开始直到Miller平台结束时栅极电容中的电荷量。

        输入电容:\textsl{C}_{\textrm{iss}}=\textsl{C}_{\textrm{GS}}+\textsl{C}_{\textrm{GD}}\textsl{C}_{\textrm{GS}}=0);

        输出电容:\textsl{C}_{\textrm{oss}}=\textsl{C}_{\textrm{GD}}+\textsl{C}_{\textrm{DS}}\textsl{C}_{\textrm{GS}}=0);

        反馈电容(反向传输电容):\textsl{C}_{\textrm{rss}}=\textsl{C}_{\textrm{GD}}

       \textsl{C}_{\textrm{GS}}\textsl{C}_{\textrm{GD}}主要由栅极结构决定,\textsl{C}_{\textrm{DS}}由垂直PN结的电容决定。

        3所示为MOSFET驱动电路的等效框图,在每个开关周期中,所需的栅极电荷均会通过驱动器输出阻抗(\textsl{R}_{\textrm{GHO}}\textsl{R}_{\textrm{GLO}})、外部栅极电阻\textsl{R}_{\textrm{G}}以及MOSFET内部栅极网状电阻\textsl{R}_{\textrm{GI}}。栅极电阻功率损耗与通过电阻传输电荷速度的快慢无关。

        主要结合图2和图3MOSFET开通和关断过程各分为4个阶段进行分析并计算相关损耗。


1.开通阶段。

        第阶段:0~\textsl{t}_{\textrm{0}}。此阶段\textsl{V}_{\textrm{GS}}电平从0开始上升至阈值电压\textsl{V}_{\textrm{GS(th)}},栅极电流\textsl{I}_{\textrm{G}}主要给MOSFET\textsl{Q}_{\textrm{GS1}}充电,极少部分流经\textsl{Q}_{\textrm{GD}}。此过程中\textsl{V}_{\textrm{DS}}\textsl{I}_{\textrm{DS}}维持上个状态(\textsl{V}_{\textrm{DS}}=\textsl{V}_{\textrm{in}}\textsl{I}_{\textrm{DS}}=0)不变,故可称为为开通延时。

        第阶段:\textsl{t}_{\textrm{0}}~\textsl{t}_{\textrm{1}}\textsl{t}_{\textrm{0}}时,MOSFET开始通流。\textsl{I}_{\textrm{G}}持续流入\textsl{Q}_{\textrm{GS2}}\textsl{Q}_{\textrm{GD}}中,\textsl{V}_{\textrm{GS}}电压逐渐升高直至\textsl{t}_{\textrm{1}}时刻达到Miller平台电压\textsl{V}_{\textrm{Gs(miller)}}。与之伴随的是\textsl{I}_{\textrm{DS}}也逐渐增大至最高,但\textsl{V}_{\textrm{DS}}依旧为高电平。因为\textsl{I}_{\textrm{DS}}\textsl{V}_{\textrm{GS}}成正相关,所以此阶段为MOSFET的线性区。

        将第阶段中\textsl{I}_{\textrm{G}}\textsl{V}_{\textrm{DS}}\textsl{I}_{\textrm{DS}}波形进行线性近似,则栅极驱动电流\textsl{I}_{\textrm{G2}}和所需时间\textsl{T}_{\textrm{2}}=\textsl{t}_{\textrm{1}}-\textsl{t}_{\textrm{0}}分别为:

           与此对应的开通所耗能量\textsl{E}_{\textrm{2}}为:

        阶段:\textsl{t}_{\textrm{1}}~\textsl{t}_{\textrm{2}}。此阶段为Miller平台的维持时间段,栅极电荷持续被充电使得\textsl{V}_{\textrm{GS}}电压稳定保持在\textsl{V}_{\textrm{GS(miller)}},因此其具有足够的能量使MOSFET承载完整的通态电流。在此阶段大量的\textsl{I}_{\textrm{G}}被转移给\textsl{Q}_{\textrm{GD}}充电,使\textsl{V}_{\textrm{DS}}快速下降。栅极驱动电流\textsl{I}_{\textrm{G3}}和所需时间\textsl{T}_{\textrm{3}}=\textsl{t}_{\textrm{2}}-\textsl{t}_{\textrm{1}}分别为:

        与此对应的开通所耗能量\textsl{E}_{\textrm{3}}为: 

        以上可得整个开关周期的开关损耗{\color{Red} \textsl{P}_{\textrm{SW}}}约为:         注:MOSFET的开通或关断需要对\textsl{C}_{\textrm{iss}}进行充电或放电,当电容上的电压发生变化时,与之反映的是电荷数量的转移,栅极电压和所需电荷数量的关系一般可由datasheet中的栅极电荷与栅源电压曲线获得。栅极电荷是栅极驱动电压的函数,\textsl{V}_{\textrm{DS}}最高电压会影响Miller平台电荷,从而影响整个开关周期内所需的总栅极电荷。 

        第阶段:\textsl{t}_{\textrm{2}}~\textsl{t}_{\textrm{4}}。此阶段中栅极电流\textsl{I}_{\textrm{G}}通过对\textsl{C}_{\textrm{GS}}\textsl{C}_{\textrm{GD}}充电(两者分流),使得\textsl{V}_{\textrm{GS}}Miller平台电压逐渐上升至最终驱动电压\textsl{V}_{\textrm{GS(actual)}},其最终电平决定了开通期间的最终导通电阻\textsl{R}_{\textrm{DS(on)}}。此阶段\textsl{I}_{\textrm{DS}}依然保持恒定,但是由于\textsl{R}_{\textrm{DS(on)}}的下降,\textsl{V}_{\textrm{DS}}略有降低(\textsl{V}_{\textrm{DS}}=\textsl{I}_{\textrm{DS}}*\textsl{R}_{\textrm{DS(on)}})。\textsl{R}_{\textrm{DS(on)}}与驱动电压和温度关系如图4所示。

        可得开通阶段的驱动器损耗\textsl{P}_{\textrm{DRV(on)}}为:        Buck变换器的MOSFET电流有效值\textsl{I}_{\textrm{DS(RMS)}}为:        则通态{\color{Red} \textsl{P}_{\textrm{CON}}}损耗为:


 2.关断阶段。

        第阶段:\textsl{t}_{\textrm{5}}~\textsl{t}_{\textrm{7}}\textsl{C}_{\textrm{iss}}电容放电,使得\textsl{V}_{\textrm{GS}}电平从驱动电压\textsl{V}_{\textrm{GS(actual)}}降至Miller平台电压\textsl{V}_{\textrm{GS(miller)}}。此阶段栅极电流\textsl{I}_{\textrm{G}}\textsl{C}_{\textrm{iss}}自身提供,而非驱动器提供。\textsl{I}_{\textrm{G}}流经\textsl{C}_{\textrm{GS}}\textsl{C}_{\textrm{GD}}回到驱动器。随着驱动电压降低,\textsl{R}_{\textrm{DS(on)}}增大,\textsl{V}_{\textrm{DS}}略有上升,\textsl{I}_{\textrm{DS}}保持不变。

        第阶段:\textsl{t}_{\textrm{7}}~\textsl{t}_{\textrm{8}}。此阶段与Miller平台阶段所对应,栅极电流\textsl{I}_{\textrm{G}}\textsl{C}_{\textrm{GD}}的充电电流,因此\textsl{V}_{\textrm{GS}}是保持恒定的。栅极电流由功率级旁路电容提供,并从\textsl{I}_{\textrm{DS}}中减去,总\textsl{I}_{\textrm{DS}}仍然等于负载电流。\textsl{V}_{\textrm{DS}}\textsl{I}_{\textrm{DS}}*\textsl{R}_{\textrm{DS(on)}}上升到最大电压\textsl{V}_{\textrm{in}}

        第阶段:\textsl{t}_{\textrm{8}}~\textsl{t}_{\textrm{9}}。栅极电压继续从Miller平台电压\textsl{V}_{\textrm{GS(miller)}}下降到阈值电压\textsl{V}_{\textrm{GS(th)}},绝大部分栅极电流\textsl{I}_{\textrm{G}}来自于\textsl{C}_{\textrm{GS}},因为\textsl{C}_{\textrm{GD}}在前一个阶段就被反向充满电了。此阶段结束时,MOSFET又处在线性区,\textsl{V}_{\textrm{GS}}下降导致\textsl{I}_{\textrm{DS}}减小接近于0

        第阶段:\textsl{t}_{\textrm{9}}~\textsl{t}_{\textrm{10}}。此阶段对\textsl{C}_{\textrm{iss}}完全放电,\textsl{V}_{\textrm{GS}}进一步下降直至为0。与前一阶段类似,栅极电流的大部分电流由\textsl{C}_{\textrm{GS}}提供。MOSFET\textsl{V}_{\textrm{DS}}\textsl{I}_{\textrm{DS}}保持不变。

        可得关断阶段的驱动器损耗为:        以上可得整个开关周期的驱动器损耗{\color{Red} \textsl{P}_{\textrm{DRV}}}约为:        需要强调的是,栅极驱动器的最重要特性在于处在Miller平台区时的拉电流及灌电流能力。

此外,MOSFET输出电容损耗{\color{Red} \textsl{P}_{\textrm{Coss}}}为:

        至此,MOSFET在整个开关周期内相关损耗{\color{Red} \textsl{P}_{\textrm{loss}}}为:


 参考资料:

[1] TI - MOSFET Power Losses and How They Affect Power-Supply Efficiency.

[2] TI - Fundamentals of MOSFET and IGBT Gate Driver Circuits.

[3] Infineon - IPW60R018CFD7 datasheet.

MOS管(金属-氧化物-半导体场效应晶体管)的开关损耗是指当MOS管在开关过程中所消耗的能量。开关损耗主要由以下几个部分组成: 1. 栅极驱动损耗:这是由于MOS管的栅极电容在开关时充放电所产生的损耗。每次MOS管从导通状态变为截止状态,或者从截止状态变为导通状态时,栅极电容都需要充放电。栅极驱动损耗栅极电容大小和栅极电压变化量成正比。 2. 交越损耗:当MOS管从导通变为截止,或者从截止变为导通时,会有一个短暂的期间,其中漏极电流和漏极-源极电压都不为零,此时MOS管同时承受电压和电流,从而产生损耗。 3. 布尔效应(Miller效应)损耗:在MOS管关闭过程中,漏极-源极间电压快速上升,由于栅极和漏极之间的寄生电容效应,栅极电压上升速度变缓,导致漏极电流持续一段时间才下降到零,这个期间内漏极-源极间电压和漏极电流都非零,产生损耗开关损耗计算涉及到多个参数,如栅极驱动电流、栅极电容值、漏极电流、漏极-源极电压、开关频率以及开关时间和MOS管的内阻等。具体的计算方法可以通过以下步骤进行: 1. 确定MOS管的栅极电容值(包括栅极-源极电容Cgs和栅极-漏极电容Cgd)。 2. 计算栅极电容在开关过程中的充放电能量消耗,这可以通过积分栅极电流(Ig)栅极电压(Vg)的乘积随时间的变化得到。 3. 考虑交越损耗,这通常需要测量在MOS管切换时漏极电流和电压的波形,并计算它们重叠期间的平均功率。 4. 对于布尔效应损耗,需要测量漏极电压和栅极电压的波形,确定两者之间乘积的积分,以获得相关的能量消耗。 具体的数学表达式和计算公式较为复杂,通常需要结合实际电路中的波形图来分析计算
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