模拟IC校招知识总结(二)

本文详细总结了模拟集成电路设计中的关键知识点,包括I-V特性、二级效应如体效应和沟道长度调制,深入探讨亚阈值导电性、短沟道效应及其影响,如DIBL和速度饱和,并介绍了FINFET和MOS电容器的基本原理。
摘要由CSDN通过智能技术生成

模拟IC校招知识总结(二)

I-V特性

电流I公式推导
ID与VDS的关系图
跨导的推导

二级效应

体效应

形成原因
对Vth的影响(增加Vth),公式

沟道长度调制效应

只存在在饱和区中。
沟道L越长,λ越小。L与1/λ正相关。

亚阈值导电性

电流公式
强反型:
弱反型:

按比例缩小理论

短沟道效应

DIBL

反短沟道效应

垂直电场引起的迁移率退化

速度饱和

速度=迁移率*电场强度

热载流子效应

导致漏-衬底电流

漏-源电压引起的输出阻抗的变化

器件模型

Cgs和Cgd随Vgs变化的曲线

FINFET

MOS电容器

CV曲线(Cgs与Vgs)积累区、弱反型、强反型

以上就是本节的全部内容了,欢迎留言讨论~

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