模拟IC校招知识总结(二)
MOS器件物理基础
I-V特性
电流I公式推导
ID与VDS的关系图
跨导的推导
二级效应
体效应
形成原因
对Vth的影响(增加Vth),公式
沟道长度调制效应
只存在在饱和区中。
沟道L越长,λ越小。L与1/λ正相关。
亚阈值导电性
电流公式
强反型:
弱反型:
按比例缩小理论
短沟道效应
DIBL
反短沟道效应
垂直电场引起的迁移率退化
速度饱和
速度=迁移率*电场强度
热载流子效应
导致漏-衬底电流
漏-源电压引起的输出阻抗的变化
器件模型
Cgs和Cgd随Vgs变化的曲线
FINFET
MOS电容器
CV曲线(Cgs与Vgs)积累区、弱反型、强反型
以上就是本节的全部内容了,欢迎留言讨论~