【荐读IEEE TPAMI】神经重建:从单目视频中实时连贯的3D场景重建

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NeuralRecon是一个创新框架,能够从单目视频实时重建连贯的3D场景,不同于以往逐帧深度图估计方法。通过神经网络直接重建局部TSDF体积并融合,捕捉局部平滑和全局形状信息,实现准确、连贯的重建。同时,使用GRU融合模块确保片段间一致性。系统还能进行语义分割,自监督微调提高新场景的重建质量。实验表明,NeuralRecon在准确性和速度上优于同类方法。
摘要由CSDN通过智能技术生成

题目:NeuralRecon: Real-Time Coherent 3D Scene Reconstruction from Monocular Video

神经重建:从单目视频中实时连贯的3D场景重建

作者:Xi Chen; Jiaming Sun; Yiming Xie; Hujun Bao; Xiaowei Zhou

源码链接: https://github.com/zju3dv/NeuralRecon


摘要

我们提出了一个名为 NeuralRecon 的新框架,用于从单目视频中实时重建三维场景。与先前的方法不同,先前的方法在每个关键帧上分别估计单视图深度图,然后将其融合,我们提出直接通过神经网络顺序地重建每个视频片段的局部表面,表示为稀疏的 TSDF 体积。使用基于门控循环单元(Gated Recurrent Units, GRU)的学习型 TSDF 融合模块来指导网络从先前

IEEE TPAMIIEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence)是一个涵盖模式识别、计算机视觉、图像处理和机器学习等领域的高质量期刊,其也包括用于缺陷检测的研究。 以下是一些在IEEE TPAMI期刊上发表的用于缺陷检测的论文: 1. "Automatic Defect Detection in X-Ray Images Using Convolutional Neural Networks"(使用卷积神经网络自动检测X射线图像的缺陷)-- 该论文提出了一种基于卷积神经网络(CNN)的自动缺陷检测方法,该方法可以应用于各种类型的X射线图像的缺陷检测。 2. "Unsupervised Defect Detection in Textured Materials Using Convolutional Autoencoders"(使用卷积自动编码器在纹理材料进行无监督缺陷检测)-- 该论文提出了一种基于卷积自动编码器(CAE)的无监督缺陷检测方法,该方法可以有效地检测纹理材料的缺陷。 3. "A Hierarchical Approach to Defect Detection in Semiconductor Wafer Images"(半导体晶圆图像缺陷检测的分层方法)-- 该论文提出了一种基于分层方法的缺陷检测方法,可以应用于半导体晶圆图像的缺陷检测。 4. "Deep Learning-Based Defect Detection in Semiconductor Manufacturing"(基于深度学习的半导体制造的缺陷检测)-- 该论文提出了一种基于深度学习的缺陷检测方法,可以应用于半导体制造的缺陷检测,并且在实验取得了良好的结果。 这些论文都展示了IEEE TPAMI作为一个重要的期刊,提供了广泛的研究和应用领域,包括缺陷检测。
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