边缘检测在数字电路设计中非常常见,通常包含上升沿检测(posedge)、下降沿检测(negedge)、以及双边沿检测(double edge)。
边缘检测虽然实现非常简单,但有一些值得注意的地方,在设计中一不留神可能就会出现边沿漏检的情况。下面结合代码、电路图以及仿真时序,来扒一扒里面的坑。
第一种
先来看一种,这是最常见的一种边沿检测设计方案,但其中存在很大的隐患,非常容易漏检:
module edge_detect1(
input clk,
input signal,
output pe, //上升沿
output ne, //下降沿
output de //双边沿
);
reg reg1;
always@(posedge clk) begin
reg1 <= signal;
end
assign pe = (~reg1) & signal;
assign ne = reg1 & (~signal);
assign de = pe | ne; // 或 reg1 ^ signal
endmodule
对应的电路结构如下
该结构的边沿检测模块,仅使用到1个寄存器,其边沿输出通过信号 signal 与前一时刻的 signal 做逻辑运算得到,正因此,其一旦signal信号发生变动,其边沿信号也会随之改变,其优点是边沿信号响应迅速,而缺点是边沿信号高电平时间小于一个 clk 周期,因此容易出现漏检。其时序仿真如下
第二种
既然第一种边沿检测模块的问题出在边沿信号随 signal 信号实时改变,因此我们很容易想到解决的方法:在信号输出端口添加寄存器,从而使边沿信号高电平维持一个时钟周期。
module edge_detect2(
input clk,
input signal,
output reg pe, //上升沿
output reg ne, //下降沿
output reg de //双边沿
);
reg reg1;
always@(posedge clk) begin
reg1 <= signal;
pe <= (~reg1) & signal;
ne <= reg1 & (~signal);
de <= reg1 ^ signal;
end
endmodule
通过在输出端口添加寄存器,可以有效削弱输出信号对输入信号的依赖,从而提高系统的稳定性,时序仿真如下
可以看到,其边沿信号响应会略有迟滞,迟滞时间小于一个时钟周期,而边沿信号高电平时间将维持一个时钟周期。
第三种
第二种边沿检测方案尽管解决了边沿信号高电平时间过短的问题,但需要消耗4个寄存器,我们能不能减少寄存器,而达到同样的效果呢?我们第二种方案维持信号的方式是直接寄存输出信号的值,但实际上我们也可以通过寄存 signal 信号达到信号保持的目的。
module edge_detect3(
input clk,
input signal,
output pe, //上升沿
output ne, //下降沿
output de //双边沿
);
reg reg1,reg_2;
always@(posedge clk) begin
reg1 <= signal;
reg2 <= reg1;
end
assign pe = reg1 & (~reg2);
assign ne = (~reg1) & reg2;
assign de = reg1 ^ reg2;
endmodule
该方案中,对 signal 进行连续两次寄存,两寄存器 reg1、reg2 相串联,而边沿信号通过 reg1 和 reg2 逻辑运算得到。
此种方案下,其逻辑功能与第二种方案完全一致,但只需要两个寄存器,在资源受限的情况下可以采用该方案,从而达到节省逻辑资源的目的。