如何为双向/输入输出端口编写 Verilog Testbench

这篇文章介绍了如何为双向或输入输出端口编写 Verilog 测试平台。这种情况发生在包含双向或输入输出端口（例如 I2C 内核、IO 焊盘、存储器等）的特殊设计中。

在这篇文章中，我将举例说明如何为数字 IO 板编写测试平台代码。基本上，IO 板具有逻辑输入 DS、OEN、IE、PE，用于将 IO 板配置为输入或输出。当 DS = OEN = IE = PE = 1 时，IO 板用作输入板。因此，来自双向端口 PAD 的数据被写入输出 C。当 DS = PE = 1 且 OEN = IE = 0 时，IO 板用作输出板。因此，来自输入 I 的信号被传递到双向端口 PAD。

Verilog 测试平台框图

如 Verilog 测试平台的框图所示，被测 IO pad 是 DUT 模块。块0控制输入输出端口 PAD 如下：

 assign PAD = wr==1 ? din:1'bz;

当 wr==1 时，inout 端口 PAD 作为输入工作，因此 PAD = din。当 wr==0 时，inout 端口 PAD 被分配为高阻抗 1'bz。因此，它成为从 IO pad 的输入 I 获取数据的输出。
块 1 是生成测试用例以检查 IO 焊盘的输入/输出功能的主要测试平台。
下面是 IO pad 的完整 Verilog Testbench。

`timescale 1ns/10ps
// fpga4student.com
// FPGA projects, Verilog projects, VHDL projects
// How to write a verilog testbench for bidirectional/ inout port 
module test_IO();

reg DS,OEN,IE,PE,I,din;
wire PAD;
reg wr;
wire C;
// inout port
assign PAD = wr==1 ? din:1'bz;

DIGITAL_IO dut(I,DS,OEN,PAD,C,PE,IE);

initial begin
 // test the pad as an input
 wr=1;
 DS=1;
 OEN=1;
 din=0;
 IE=1;
 PE=1;
 #100;
 din=1;
 #100;
 din=0; 
 #100;
 din=1;
 #100;
 din=0;
 #100;
 din=1;
 #100;
 din=0;
 #100;
 din=1;
 #100;
 din=0; 
 #100;
 wr=0;
 // test the pad as an output
 // by reading data out 
 #1000;
 DS=1;
 OEN=0;
 din=0;
 IE=0;
 PE=1;
 I=1;
 #100;
 I=0; 
 #100; 
 I=1;
 #100;
 I=0; 
 #100;
 I=1;
 #100;
 I=0; 
 #100;
 end 

endmodule 

双向端口仿真波形：

仿真波形显示，当 wr= DS = OEN = IE = PE = 1 时，IO pad 作为输入 pad，来自双向端口 PAD 的信号传递到输出 C。当 DS = PE =1 且 OEN = IE 时= 0, wr=0 使 IO pad 作为输出 pad 运行。因此，从输入端口I读取来自双向端口 PAD 的信号。

 assign PAD = (wr==1) ? din:1'bz;