这篇文章介绍了如何为双向或输入输出端口编写 Verilog 测试平台。这种情况发生在包含双向或输入输出端口(例如 I2C 内核、IO 焊盘、存储器等)的特殊设计中。
在这篇文章中,我将举例说明如何为数字 IO 板编写测试平台代码。基本上,IO 板具有逻辑输入 DS
、OEN
、IE
、PE
,用于将 IO 板配置为输入或输出。当 DS = OEN = IE = PE = 1
时,IO 板用作输入板。因此,来自双向端口 PAD
的数据被写入输出 C。当 DS = PE = 1
且 OEN = IE = 0
时,IO 板用作输出板。因此,来自输入 I 的信号被传递到双向端口 PAD
。
Verilog
测试平台框图
如 Verilog
测试平台的框图所示,被测 IO pad
是 DUT
模块。块0控制输入输出端口 PAD
如下:
assign PAD = wr==1 ? din:1'bz;
当 wr==1
时,inout
端口 PAD
作为输入工作,因此 PAD = din
。当 wr==0
时,inout
端口 PAD
被分配为高阻抗 1'bz
。因此,它成为从 IO pad
的输入 I 获取数据的输出。
块 1 是生成测试用例以检查 IO 焊盘的输入/输出功能的主要测试平台。
下面是 IO pad 的完整 Verilog
Testbench。
`timescale 1ns/10ps
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// How to write a verilog testbench for bidirectional/ inout port
module test_IO();
reg DS,OEN,IE,PE,I,din;
wire PAD;
reg wr;
wire C;
// inout port
assign PAD = wr==1 ? din:1'bz;
DIGITAL_IO dut(I,DS,OEN,PAD,C,PE,IE);
initial begin
// test the pad as an input
wr=1;
DS=1;
OEN=1;
din=0;
IE=1;
PE=1;
#100;
din=1;
#100;
din=0;
#100;
din=1;
#100;
din=0;
#100;
din=1;
#100;
din=0;
#100;
din=1;
#100;
din=0;
#100;
wr=0;
// test the pad as an output
// by reading data out
#1000;
DS=1;
OEN=0;
din=0;
IE=0;
PE=1;
I=1;
#100;
I=0;
#100;
I=1;
#100;
I=0;
#100;
I=1;
#100;
I=0;
#100;
end
endmodule
双向端口仿真波形:
仿真波形显示,当 wr= DS = OEN = IE = PE = 1
时,IO pad
作为输入 pad,来自双向端口 PAD
的信号传递到输出 C。当 DS = PE =1
且 OEN = IE
时= 0, wr=0
使 IO pad
作为输出 pad 运行。因此,从输入端口I读取来自双向端口 PAD
的信号。
assign PAD = (wr==1) ? din:1'bz;