ATE测试之DC测试

IOZL/IOZH

IOZL是当输出处于高阻抗状态（Z）且向输出施加低电压（L）时，输出的电流。
IOZH是当输出处于高阻抗状态（Z）且向输出施加高电压（H）时，输出的电流。

为什么要测试IOZ？
目的：验证三态输出缓冲器在关闭状态时是否提供极高的电阻。
IOZ高阻抗漏电测试旨在确保双向和高阻抗输出能够达到高阻抗或关闭状态。
IOZL测试测量输出处于高阻抗状态时从输出引脚到VDD的电阻。
IOZH测试测量输出处于高阻抗状态时输出引脚与接地之间的电阻。
该测试确保输出电阻在关闭时符合设计参数，并保证输出电流不会超过规定的IOZL/IOZH电流。这也是发现CMOS器件工艺问题的一个好方法。

串行测试：
为了执行IOZ测试，应用VDD并执行一个模式，该模式将设备引脚预处理为其高阻抗状态。直流测量系统（PMU）将高压和低压施加到每个引脚上（一次一个），并测量产生的电流。然后将测量的电流与设备规范中的IOZ电流限值进行比较。在每个销上分别重复此过程，直到所有高Z销都经过测试。确保验证VDD、VOZ（施加到输出的电压）和IOZ电流限制的值。此测试需要使用电流钳。
串行测试的优点是能够测量每个引脚的单个电流。缺点是，像往常一样，单独测量每个引脚所需的测试时间。

并行测试：
一些测试系统能够进行并行leakage测量。并行测量是指所有测量都是同时进行的，但都是在单独的基础上进行的。并联泄漏测试通过使用每个pin一个PMU来执行。该模式将设备引脚预处理为其高阻抗状态。每个PMU强制逻辑0，同时测量每个引脚的电流。然后强制逻辑1，并再次并行测量每个引脚的电流。将电流测量结果与测试程序中设定的限值进行比较，并做出通过/失败决定。
这种技术的优点是可以快速执行IOZ测试，并且可以测量每个引脚的单独电流。此方法要求测试系统具有每引脚PMU测试硬件。

组合测试：
未对输出进行组合测试。
注：IOZL/IOZH高阻抗电流测试通常在能够关闭的输出端（三态和双向引脚）上执行。仔细阅读设备规范，以确定要测试的引脚。通常在测试CMOS器件时，VDD设置为VDDMAX（最坏情况），输出强制为零和VDDMAX伏。

VI

VI表示当从TTL（非CMOS）器件的输入端施加负电流时，在输入端（I）上测得的电压（V）。
目的：验证输入结构的完整性

为什么要测试VI？
输入钳制测试验证连接在输入晶体管发射极和接地之间的输入钳制二极管的完整性。此测试仅在TTL电路上执行。

串行测试：
PMU施加-15mA至-20mA范围内的负电流。测量合成电压并与设备规格进行比较（通常设置为-1.5V）。该测试使用单个PMU，一次一个引脚连续执行。

IOS

IOS表示当短路条件应用于输出时，输出（O）产生的电流（I）。
目的：验证最大电流期间输出的完整性

为什么要测试IOS？
当输出处于逻辑1状态且输出电压为零伏时，IOS测试测量输出引脚的电阻。该试验确保输出电阻在承受最坏负载条件时符合设计参数，并保证输出短路时，能够提供预定义的电流。该电流还表示DUT引脚可提供给电容性负载充电的最大电流量，并可用于计算输出的上升时间。

串行测试：
首先对设备进行预处理，以使被测输出驱动逻辑1，从而完成输出短路测试。然后，直流测量系统（PMU）将零伏电压应用于单个输出，测量合成电流，并将其与设备规格进行比较（通常为双端限值）。重复此过程，直到测试完所有输出。设备规格可能指示输出短路以防止设备过热的最长时间。查看设备规范的任何“注释”或“最大额定值”部分以了解详细信息。

避免热切换：
IOS测试需要仔细规划程序，以避免热切换。首先将设备输出预处理为逻辑1状态。DUT输出产生的电压将介于VOH和VDD之间。
设备规范规定，输出必须短路至零伏。如果PMU编程为强制零电压，然后连接到设备输出，则PMU一连接，就会有高电流流过。产生热切换问题的原因是PMU强制零电压，而DUT输出提供VOH。
为了正确执行测试，必须首先将PMU编程为强制零电流，将PMU置于电压测量模式。然后将其连接到DUT输出，测量并保存DUT的VOH电压。然后将PMU从DUT上断开，并对其进行编程，以强制施加刚刚测量的VOH电压。现在，PMU和DUT输出都处于相同的电压，可以安全地连接在一起（避免热切换）。接下来，将PMU编程为强制零伏，测量IOS电流并与测试限值进行比较。PMU再次编程以强制测量VOH电压并断开。必须对每个需要IOS测试的DUT引脚执行此操作。
避免热切换的一般规则是，在打开或关闭继电器之前，使继电器两侧的电压相同。