【芯片设计- RTL 数字逻辑设计入门 番外篇 7 -- 芯片生产 ATE 测试 介绍】

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ATE 概述

广义上的IC测试设备我们都称为ATE（AutomaticTest Equipment），一般由大量的测试机能集合在一起，由电脑控制来测试半导体芯片的功能性，这里面包含了软件和硬件的结合。

不同的芯片类型则有不同的测试方法和要求。
芯片类型：

• 模拟芯片 （Analog)：模拟是一个可以拉开来慢慢说的概念。简单来说，就是感知物理世界的接口。信号的特征上来说，模拟信号是连续的；
• 数字芯片 (Digital): 使用数字信号来传递数据信息，代表如微处理器。信号特征来说，它是离散型的；
• 混合信号芯片 （Mixed Signal) ： 自然是两种信号都有，各种功能集成化。比如像DSP和SoC芯片；
• 存储/高速总线类芯片：这类芯片的测试项目相对更加复杂，有着自身产品特征上的特别测试需求。

ATE 测试介绍

ATE (Automated Test Equipment) 测试与 Scan Chain 之间存在一个密切的关系。二者共同构成了集成电路（IC）测试和验证过程中的关键组件。