Built-in self-test (BiST) 内置自检

乐元

已于 2024-09-21 22:09:19 修改

阅读量203

点赞数

文章标签： HBM DDR

于 2024-09-21 20:38:14 首次发布

原文链接：https://blog.csdn.net/qaunmhh/article/details/125259798

版权

依公知及经验整理，原创保护，禁止转载。

专栏《深入理解DDR》

前言

内置自检（BIST）是一种结构测试方法，它向 IC 添加逻辑，允许 IC 定期测试自己的操作。

BIST是一种DFT（Design for Testability）技术，它可以应用于几乎所有电路.BIST技术的快速发展很大的原因是由于居高不下的ATE成本和电路的高复杂度。BIST技术可以通过实现自我测试从而减少对ATE的需求。BIST技术也可以解决很多电路无法直接测试的问题，因为他们没有直接的外部引脚，比如嵌入式内存。

BIST两种主要类型是 memory(内存) BIST 和 Logic(逻辑）BIST。

Memory bist 测试存储器电路
Logic Bist测试随机逻辑电路。

MBIST

Basic Memory Model

在这里插入图片描述
图： Mbist 模型

Memory BIST (或称为 MBIST）为内存生成data pattern，通过输入不同组数值测试sram存储器，读取它们以记录任何缺陷，需要将自检的硬件逻辑加到rtl里面。

存储器电路模型：地址译码器、读写控制逻辑、存储单元阵列内存 BIST 还包括修复和冗余功能。在这项技术中，每个芯片都有备用电路。如果电路坏了，就会断开有缺陷的电路，用好的电路替换。内存 BIST 还用于获取 2.5D/3D 设备的良好内存堆栈。

MBIST Algorithms

参考[1]

存储器通过特殊算法进行测试，可以检测存储器中发生的故障。许多不同的算法可用于测试 RAM 和 ROM。下面描述的是用于测试存储器的两种最重要的算法。这些算法可以用最少的测试步骤和测试时间检测内存中的多个故障。
Checkerboard Algorithm
March Algorithm

MBIST 挑战

面临的挑战，从以下几个方面来探讨：

对于Memory Vendor来说，在新工艺下，memory可能会有新的失效机制，如何设计有效的MBIST 算法是一项重要的研究课题。

从EDA角度看，目前业界工具对常规memory (SRAM, ROM, Register File等)的支持已相对成熟。芯片公司对EDA 提供针对特殊类型的memory （如TCAM， DRAM ）的测试方案的需求正日渐迫切。

从芯片实现的角度看，设计者需要考虑如何使得MBIST逻辑对芯片PPA的影响最小。对于使用带Redundacy Memory的design来说，要考虑自修复(self-repair)，也会增加设计和验证的难度。

————————————————

原文链接：https://blog.csdn.net/qaunmhh/article/details/125259798

LBIST

LBIST通常用于测试随机逻辑电路，一般采用一个伪随机测试图形生成器来产生输入测试图形，应用于器件内部机制；而采用多输入寄存器（MISR）作为获得输出信号产生器。

Logic BIST 或 LBIST 使用 Pseudo-Random Pattern Generator 生成应用于内部扫描链的 input pattern。结果将压缩为签名。然后，Multi-Input Signature Register 确定签名是否正确，以判断是否通过了所有测试。

LBIST 最常用于安全关键和高可靠性应用，例如汽车。但是，LBIST 需要一个非常干净的设计，没有未知状态，因为这会破坏操作。这意味着更严格的设计和测试规则，并且 LBIST 的插入比扫描更复杂。LBIST 在时序、面积和功耗方面也会产生大量开销。

参考


1	https://blog.csdn.net/wangyijieonline/article/details/134372805

免责声明：

一. 本博客及动态出现的信息，均仅供参考。本人将尽力以求所提供信息的准确性及可靠性，但不保证有关资料的准确性及可靠性。本人对有关资料所引致的错误、不确或遗漏，概不负任何法律责任（包括侵权责任、合同责任和其它责任）。

二. 任何透过本博客及动态的网页或链接及得到的资讯、产品及服务，本人概不负责，亦不负任何法律责任。

三. 本博客及动态使用的信息，网页或链接（图片）可能由于本人疏忽未标明作者和出处，如有侵权，请立即与本人取得联系。

四. 本博客及动态支持保护知识产权，任何单位或个人认为本博客及动态中的网页或链接内容可能涉嫌侵犯其知识产权，应该及时向本人提出，并提供侵权情况证明。本人会依法尽快删除相关内容或断开相关链接。

五. 本博客内容仅供学习交流，禁止商用。

六. 阅读并使用本博客及动态包括其提供的网页链接及资源时，即代表您已阅读并同意本免责声明的全部内容。如有异议，请立刻关闭本网页并屏蔽本人动态并停止使用。