随着SMT产业的飞速发展,装配密度越来越高,组件越来越小,PCB基板层数的增加对SMT制造工艺提出了新的挑战。随着新工艺的引入和新工艺的研究与开发,对BGA器件提出了更高的要求。因此,严格控制BGA器件的空洞(气泡,界面微孔)将变得尤为重要。
BGA焊点中存在气泡是一种常见且难以避免的现象。
当焊点熔化时,焊膏中的助焊剂残留和焊锡表面上的杂质会形成焊点气泡。过多的气泡不仅会降低焊点的强度,还会增加焊球的体积并增加发生短路的几率。即使没有形成短路和其他缺陷,电气连接也会受到影响。
X射线在SMT行业中已经广泛应用于检测BGA的气泡大小、空洞率、最大气泡尺寸。BGA空洞的验收标准大部分是遵从IPC-A-610D(8.2.12.4 表面安装阵列-空洞),IPC标准明确规定了X射线检测结果中任何焊料球的空洞大于25%视为缺陷。
IPC中的BGA空洞验收标准,许多大型国际制造商并不认可,因为它们的要求比IPC标准更严格且要求更高。例如,联想和华为认为BGA的空隙面积不应超过15%。如果超过20%,则会影响焊点的可靠性并影响焊点的使用寿命。