芯片老化验证流程_芯片验证系统及方法与流程

本发明涉及集成电路设计技术领域，尤其涉及一种芯片验证系统及方法。

背景技术：

现有技术方案仅有适用于第三方IP级和子系统级的验证环境，并且相互独立，其中仅有小部分验证组件(如VIP和通用验证组件)可以复用，以至于需要维护两套甚至更多相对独立又略有重复的验证环境，当在模块级发现一些问题需要去系统级重现时，往往需要耗费大量的时间精力从头开始，反之亦然，从而造成验证效率低下。

在当今的SOC设计中，复杂度和集成度越来越高，经常会采购一些第三方IP经过二次开发后将其融入SOC来加速设计，由此就带来了一系列新的问题，例如当第三方IP版本升级的时候如何迅速地将其集成到SOC环境并完成基本的功能验证，当出现问题时，如何迅速定位是第三方IP还是外围配套逻辑的问题。

技术实现要素：

本发明提供的芯片验证系统及方法，能够提高验证效率。

第一方面，本发明提供一种芯片验证系统，所述系统包括子系统通用验证组件、二次开发IP特定验证组件和第三方IP特定验证组件中的一个或多个，以及测试用例，所述测试用例控制VIP的总线模型分别从待验证设计的收发两端对待验证设计发出激励，同时验证组件配置待验证设计以使其正常工作。

可选地，当进行子系统级的验证时，所述系统包括子系统通用验证组件。

可选地，当进行二次开发IP层级的验证时，所述系统包括二次开发IP特定验证组件，或者，所述系统包括二次开发IP特定验证组件和子系统通用验证组件。

可选地，当进行第三方IP层级的验证时，所述系统包