关于MCU内部的相关信息——博客摘录「外部信号输入源阻抗与ADC内部开关电阻关系」2023年4月13日

最新推荐文章于 2024-05-26 16:05:28 发布

楼高不见章台路

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本文链接：https://blog.csdn.net/weixin_41584080/article/details/130134495

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AD采样过程中，电容的充电效果受外部阻抗影响，高阻抗可能导致采样结果偏低。提高采样频率需降低AD输入阻抗。射极跟随器和运算放大器如电压跟随器可用来降低信号源阻抗，优化ADC输入，确保采样准确。ADC通道的内部组件如RADC和CADC也影响采样质量。

摘要由CSDN通过智能技术生成

AD采样原理：单片机AD采样相当于对一个容值很小的电容进行充电，如果外部阻抗（外部电路的输出阻抗）比较大，则有可能在采样周期里没有对电容充满电，此时采样结果是偏小的。因此，采样频率越高，要求AD的输入阻抗越小。

射极跟随器：降低信号源的输出阻抗

对于阻抗大的传感器可以采用电压跟随器、缓冲器等运算放大器电路改善阻抗匹配问题，使得阻抗变小输入到ADC中 。使用运放做一个电压跟随器，这样可以减小信号源的阻抗效应。因为放大器具有很高的输入阻抗和非常低的输出阻抗

ADC通道内部简图：

RADC：ADC内部开关电阻，开关电路导通的等效电阻；CADC：内部采样保持电容

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