蓝桥杯试题集试题总汇(C++)
问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
解题思路
只要其他的芯片对一个芯片的判断结果是1的个数大于0的个数,就可以判断这个芯片是一个好芯片。大意就是:若半数以上芯片认为它是好芯片,则它就是好芯片。
原因:题目中说,其中坏的芯片的判断是随机的要不是1要不是0,所以对一个好的芯片(被检测)的判断而言,用坏的芯片去判断(检测方)这个好的,显示1和显示0的概率都是50%,而如果一个好的芯片(检测方)去判断这个好的芯片(被检测),这个结果一定是1,已知好芯片比坏芯片多,所以一个好的芯片,被检测的结果显示1的总数一定会大于显示0的个数。
参考代码
#include<iostream>
using namespace std;
int main()
{
int n;
cin>>n;
int a[n][n];
int b[n]={0};//用于记录被测量芯片良好的次数,初始化为都为0;
for(int i=1;i<=n;i++ )
for(int j=1;j<=n;j++)
{
cin>>a[i][j];
if(a[i][j]==1)
{
b[j]++;
}
}
int t=n/2;
for(int i=1;i<=n;i++)
{
if(b[i]>t)
{
cout<<i<<' ';
}
}
return 0;
}