蓝桥杯C++——试题 基础练习 芯片测试(VIP试题)

蓝桥杯试题集试题总汇(C++)

问题描述

  有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
  每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
  给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。

输入格式

  输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
  第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。

输出格式

  按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

解题思路

只要其他的芯片对一个芯片的判断结果是1的个数大于0的个数,就可以判断这个芯片是一个好芯片。大意就是:若半数以上芯片认为它是好芯片,则它就是好芯片。

原因:题目中说,其中坏的芯片的判断是随机的要不是1要不是0,所以对一个好的芯片(被检测)的判断而言,用坏的芯片去判断(检测方)这个好的,显示1和显示0的概率都是50%,而如果一个好的芯片(检测方)去判断这个好的芯片(被检测),这个结果一定是1,已知好芯片比坏芯片多,所以一个好的芯片,被检测的结果显示1的总数一定会大于显示0的个数。

参考代码

#include<iostream>
using namespace std;
int main()
{
    int n;
    cin>>n;
    int a[n][n];
    int b[n]={0};//用于记录被测量芯片良好的次数,初始化为都为0;
    for(int i=1;i<=n;i++ )
        for(int j=1;j<=n;j++)
    {
        cin>>a[i][j];
        if(a[i][j]==1)
        {
            b[j]++;
        }
    }
    int t=n/2;
    for(int i=1;i<=n;i++)
    {
        if(b[i]>t)
        {
            cout<<i<<' ';
        }
    }
    return 0;
}

 

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