IC测试ATE设备介绍

根据被测的器件类型不同,IC测试可分为数字电路测试、模拟电路测试和混合电路测试。

其中,数字电路测试是IC测试的基础,除少数纯模拟IC如运算放大器、电压比较器、模拟开关等之外,现代电子系统中使用的大部分IC都包含有数字信号。

数字IC测试一般有直流测试、交流测试和功能测试,而功能测试一般在ATE上进行,ATE测试可以根据器件在设计阶段的模拟仿真波形,提供具有复杂时序的测试激励,并对器件的输出进行实时的采样、比较和判断。利用ATE测试座进行连接,安装在ATE测试设备上进行各功能测试。

ATE(Automatic Test Equipment)中文名即自动测试设备,它是一个集成电路测试系统,用来进行IC测试。一般包括计算机和软件系统、系统总线控制系统、图形存储器、图形控制器、定时发生器、精密测量单元(PMU)、可编程电源和测试台、ATE测试座等。

在目前的ATE设备厂商中,占据市场主要份额的企业都来自美国和日本,代表厂商有泰瑞达(Teradyne)、爱德万(Advantest)、科利登(Xcerra)等。

其中,泰瑞达和爱德万为排名全球前二位的厂商,科利登为全第三大ATE设备商,但已被另一家美国半导体测试公司Cohu收购。目前,半导ATE行业主要形成以泰瑞达与爱德万为首的双寡头格局。

以下为全球主要的ATE设备制造商:

美国:泰瑞达(Teradyne),科利登(Xcerra,已被美国Cohu公司收购),美国国家仪器(NI),Hilevel,Roos Instruments,KingTiger,Test Evolution,Telco,Sandtek,安捷伦(Agilent,现名是德科技),科休(Cohu)等。

日本:爱德万(Advantest),VTT,Tesec,芝测(Shibasoku),innotech,爱普生(Epson)等。

中国台湾:致茂(Chroma),德律(TRI),久元电子(YTEC),京元电子(KYEC),美达科技(Amida),鸿劲科技(HonTech)等。

中国大陆:华峰测控(Accotest),上海中艺,友能电子(JUNO),宏测(MacroTest),绍兴宏邦(Qatest),无锡泰思特,冠中集创,联动科技(PowerTech),信诺达泰斯特(SinodyneTest),上海凌测(Merlin),上海御渡(Ncatest),励芯泰思特(LiXinTest),北京诚泰思特,捷科科技,联合科仪等。

韩国:Exicon,Unitest,Testlan,IT-T等。

其余厂商有马来西亚的Aemulus,新加坡的SineTest,法国的Mutest,意大利的Spea,德国的Spektra以及俄罗斯的Form等。

深圳市鸿怡电子有限公司,可根据客户使用的ATE测试设备需求定制各类封装芯片的ATE测试座,test socket

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