结构光三维重建中的高反光处理

《基于光学三维成像的镜面物体表面质量检测方法研究》
条纹投影法不适合具有 高镜面反射率的物体，原因：相机很难拍摄到 投射到镜面上的结构光条纹
目前比较常用的辅助手段是向具有高镜面反射率的部分 喷涂具有漫反射特性的材料，该方法对 有部分镜面反射率的且测量精度要求不高的物体有较好的效果

相位测量偏折术（PMD）

（在条纹投影法的基础上提出的）

一、系统组成

LCD显示屏：显示计算机生成的结构光条纹
CCD相机：拍摄镜面物体照到的条纹（因为表面不平整，所以条纹会产生形变）

二、原理图

若待测平面与镜面有一个角度

最后计算得到的是 两个垂直方向的梯度分布，需要进一步积分重建才能得到最后的高度分布

三、梯度测量技术特性分析

PMD和直接的高度测量技术的不同在于 PMD通过计算梯度分布，进而得到高度分布
优点：1）对纵向振动不明显 2）灵敏度高，因为根据式2-7，tanθ的微小变化也能放大数倍至条纹的相位变化中，所以PMD的分辨率可以达到很高 3）对随机误差不敏感，因为积分的累加效应可以抑制随机噪声
缺点：1）积分算法本身会引入误差 2）低频形貌信息在测量时被压缩和丢失，并且低频误差（标定误差、非线性误差）在积分过程中被放大，这是制约PMD的全局测量因素的最重要原因之一