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DFT
文章平均质量分 82
旺旺小小书
日拱一卒,功不唐捐
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可测试性设计流程:Wrapping Core(4)Configuring Simple Core Wrapping
本文主要讲述了the Simple Wrapper Flow的默认配置、配置规则以及如何进行修改。参考(翻译)自《Synopsys® TestMAX™ DFT User Guide》,FYI。原创 2022-10-23 16:19:08 · 559 阅读 · 2 评论 -
可测试性设计流程:Wrapping Core(3)Configuring Wrapper signals
本文主要讲述了在wrapping a core的过程中其他common configuration,以及如何按照我们的需求去更改(我们所不期望的)默认设置。参考(翻译)自《Synopsys® TestMAX™ DFT User Guide》,FYI。原创 2022-10-22 14:10:22 · 366 阅读 · 0 评论 -
可测试性设计流程:Wrapping Core(2)Configuring Port-Specific Wrapper Settings
本文主要讲述了在wrapping a core的过程中如何对port进行特定设置,以及工具对于相关command的格式要求。参考(翻译)自《Synopsys® TestMAX™ DFT User Guide》,FYI。原创 2022-10-20 21:43:41 · 372 阅读 · 0 评论 -
可测试性设计流程:Wrapping Core(1)Controlling Wrapper Chain Count and Length
本文主要讲述了在wrapping a core的过程中如何配置wrapper chain的数量和长度,以及工具对于相关command的处理方式。参考(翻译)自《Synopsys® TestMAX™ DFT User Guide》,FYI。原创 2022-10-11 19:36:09 · 799 阅读 · 0 评论 -
可测试性设计技术:ATPG篇 Fault Classes(2)
除了上文提到的UT外,Fault还有另一大类也是我们更加关心的一类TE,即可以检测到的fault。工具在计算test coverage时并不会将UT计算进去,而是计算detect到的fault的数量以及可能detect到的fault占所有fault中除去不可测试的fault的比值,所以提高coverage主要从AU、UD入手。原创 2022-10-08 18:59:05 · 1920 阅读 · 0 评论 -
可测试性设计技术:ATPG篇 Fault Classes(1)
使用ATPG时,工具会根据检测到故障的方式或无法检测到故障的原因将故障进行分类。每个fault都有唯一的名字和两个字符的代码。默认情况下fault会设定在library model的输入和输出端口,可以通过设定set_internal_fault on使得fault可以设定在library model内部的门电路输入输出端口。原创 2022-10-06 19:56:56 · 1013 阅读 · 0 评论 -
可测试性设计原理:Wrapping Core (Ⅲ)
本文主要讲述了The Maximized Reuse Core Wrapping Flow的基本原理,因为相较于The Simple Core Wrapping Flow来讲Reuse对timing和area的影响更小,也是更主流的一种设计流程。参考(翻译)自《Synopsys® TestMAX™ DFT User Guide》,FYI。原创 2022-09-28 15:00:37 · 1199 阅读 · 1 评论 -
可测试性设计原理:Wrapping Core (Ⅱ)
本文主要讲述了The Simple Core Wrapping Flow的基本原理,区别于The Maximized Reuse Core Wrapping Flow实现更为简单,但会引入更大的timing和area的影响。参考(翻译)自《Synopsys® TestMAX™ DFT User Guide》,FYI。原创 2022-09-26 13:39:31 · 1283 阅读 · 0 评论 -
可测试性设计原理:Wrapping Core (Ⅰ)
Wrapping core的出现类似于为每一个core做一个boundary,方便我们对每一个core进行独立测试。本文主要讲一下wrapping core的基本原理,下篇文章会讲一下DFTC的两种core wrapping flow。参考(翻译)自《Synopsys® TestMAX™ DFT User Guide》,FYI。原创 2022-09-24 13:19:04 · 3628 阅读 · 13 评论 -
可测试性设计流程:Tessent MBIST
本文主要讲述可测试性设计流程中MemoryBIST部分,用于帮助大家快速了解 Tessent MBIST flow,了解Tessent shell commands的基本用法,参考(翻译)自《Tessent MemoryBIST User’s Manual》,FYI。原创 2022-09-22 12:27:34 · 4214 阅读 · 2 评论