可测试性设计技术：ATPG篇 Fault Classes（2）

Fault Classes

---

除了上文提到的UT外，Fault还有另一大类也是我们更加关心的一类TE，即可以检测到的fault。工具在计算test coverage时并不会将UT计算进去，而是计算detect到的fault的数量以及可能detect到的fault占所有fault中除去不可测试的fault的比值，所以提高coverage主要从AU、UD入手。全部Fault的关系如下图所示：

TE（testable）

DT（detected）

所有ATPG可以检测到的fault都被归为DT，主要包括以下两类：

• DI（detect implication）
  使用write_pattern产生的pattern就可以将这些点cover到，不需要专门针对这些点产生test pattern，工具在执行scan chain分析时就发现的fault，通常是扫描链中的fault。
• DS（detect simulation）
  当工具进行fault simulation时检测到的fault归为DS，此时对产生的pattern去看fault simulation的结果，对比good circuit和actual circuit的simulation的结果，如果不同则说明这个fault可以被detect到。