可测试性设计技术：ATPG篇 Fault Classes（1）

Fault Classes

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刚发现国庆发帖有活动，水个勋章先，改天再补(～￣▽￣)～

使用ATPG时，工具会根据检测到故障的方式或无法检测到故障的原因将故障进行分类。每个fault都有唯一的名字和两个字符的代码。
默认情况下fault会设定在library model的输入和输出端口，可以通过设定set_internal_fault on使得fault可以设定在library model内部的门电路输入输出端口。

UT（untestable）

不用或不能被测试到的fault，UT的fault不会导致function故障所以工具在计算coverage时会将其排除在外。UT fault主要包括以下几类：

• UU（unused）
  在design中没有用到的点，通常是std的某些pin。
  
• BL（blocked）
  和TI fault类似，不过更多指的是因为其他信号的干扰将test point block住，与TI fault的结果是等价的。
  
• TI（tied）
  某些点在结构上被gated或tie住了，再或者是加了约束（add_input_constraints -C0），需要注意的是这种fault是可以传递的。
  
• RE（redundant）
  冗余fault指的是测试生成器认为无法检测到的故障，因为它们对于后续结果的传递并不会造成影响，在测试生成器穷尽所有pattern后会进行一个特别的分析来验证在任何条件下都是无法检测到的。