电平接口规范学习2-LVDS

一,LVDS逻辑电平
LVDS :低电压差分信号(Low-Voltage Differential Signaling)是美国国家半导体(National Semiconductor, NS)于1994年提出的一种信号传输模式的电平标准,它采用极低的电压摆幅高速差动传输数据(采用CMOS 工艺的低电压差分信号器件),实现点对点(或则点对多:M-LVDS)的连接,具有低功耗、低误码率、低串扰和低辐射等优点,已经被广泛应用于串行高速数据通讯场合当,如高速背板、电缆和板到板数据传输与时钟分配,以及PCB内的通信链路。

LVDS 器件的传输机制是把 TTL 逻辑电平转换成低电压差分信号,以便于高速传输。与传统的 ECL逻辑相比,它采用 CMOS 工艺,其电压摆幅更低(LVDS只有 400mV,ECL 为 800mv),动态功耗更小(输出电流 3~5mA,只有 ECL 电路的 1/7),低 EMI,价格更低,因而在中等频率(几百M~几GHz)差分信号应用上具有较大的优势。

——LVDS技术规范有两个标准,即TIA(电讯工业联盟)/EIA(电子工业联盟)的ANSI/TIA/EIA-644标准(LVDS也称为RS-644接口)与IEEE 1596.3标准。

1,LVDS基本电路结构
如下图所示为典型的基本LVDS电路,采用一对差分信号线传输数据;通过驱动3.5mA的稳定电流源,以350mV低振幅(100Ω终端匹配)的差动信号来高速传送数据。其数据传输速度在规格内限定最大为655Mbit/秒,但这并不是极限值。通过各半导体厂商改进,可以实现3Gbit/秒左右的高速传输速度。
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  1. LVDS的输出端驱动是一个3.5mA的电流源,并由两组MOS管(4个)组成一对发送输出;

  2. 当A+导通,B-断开时:

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1, 电流从右上角Q2(A+ MOS管)驱动出到蓝色传输线,即右上A+ MOS管电流方向是:电流源(Driver)à右上A+ MOS管à蓝色传输线à100Ω终端电阻;

2, 左下角Q3(A+ MOS管)驱动接至GND,所以此时电流从绿色传输线通过左下角Q3流出到GND;左下A+ MOS管电流方向是:GNDà左下A+ MOS管à绿色传输线à100Ω终端电阻;

3, 整个电流通路最终电流在100Ω终端电阻侧导通,并形成输出电压:3.5mA *100Ω = 350mV。

——因为传输线提供的100Ω阻抗是交流阻抗(只在信号边沿有用的阻抗,忘记的胖友们务必复习《从电感、电容到理想传输线》相关章节),对于直流来说是传输线是高阻抗,所以终端必须有100Ω端接电阻来提供信号固定电平状态下的回流,以保证输出电压;

——需要再次强调的是:3.5mA电流从电源源流出到蓝色传输线,和绿色传输线3.5mA电流流入GND,这两者同时发生的,才能保证信号边沿的同步;驱动电流的路径并非是:电流源àQ2à蓝色传输线à100Ω终端电阻à绿色传输线àQ3àGND(有点违反直觉哈,胖友们务必回顾“传输线”相关理论)。

  1. 当B-导通,A+断开时:
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    1, 此时3.5mA驱动电流从左上角Q1(B- MOS管)流出,并流入绿色传输线;

2, 同时蓝色传输线电流流入右下角Q4(B- MOS管);

——具体电流传输的方向,如上。

3, 电流通路最终电流还是在100Ω终端电阻侧导通,但是电流方向与“A+导通,B-断开”相反,并形成反向的输出电压:-3.5mA *100Ω = -350mV。

  1. 最终在输出端形成 +350mV和-350mV信号摆幅的差分输出。

——在一本非常优秀的“信号完整性”相关书籍中,作者认为LVDS是伪差分线,因为从LVDS驱动机制来说,它只需要驱动3.5mA电流流过终端100Ω电阻形成的压差来实现,似乎并不需要一定是对耦差分线;但通过上述两条传输线的电流路径分析,我觉得LVDS应该是真正的对耦差分线。
2,LVDS电平分析
LVDS的差分信号的两根差分信号线:正电极信号(A+)和负电极信号(B−);共模偏置电压为:1.2V,差模电压摆幅是:350mV。如果我们用示波器来测试信号波形,并对两个信号电压值取差:(A+)−(B−);那么我们可以得到差分摆幅为:-350mV和+350mV。具体波形如下图所示。
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上述波形是理想的情况,如下所示为器件资料(Intel® Stratix® 10 Device)中关于LVDS相关参数的描述;其输出共模电压(VOCM)和差模电压(VOD)的具体规格如下蓝色框内所示;如果要正确接收其它器件发送过来的信号,必须满足红色框内关于输入共模电压(VICM(DC))和差模电压(VID)的参数要求。

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3,LVDS电平特点
LVDS 的特点是电流驱动模式,低电压摆幅 350mV 可以提供更高的信号传输速 率,使用差分传输的方式可以减小信号和噪声的EMI辐射:

  1. 输出电平切换不需要设计类似TTL/CMOS的“死区时间”,可以支持更高速率;

——由于是电流驱动,所以不需要防备电压源直接接地的风险。

  1. 低输出电压摆幅(350mV)):

1, 可以支持更高速率(1Gbps以上),具体支持速率对比如左下图所示;

2, 功耗消耗更低(如右下图所示),内部散热更小,有助于提供芯片集成度

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3. 低EMI电磁辐射:

1, 低的信号边缘变化率:dV/dt = 0.350V/0.5ns = 0.7V/ns;

——如下图所示,虽然速率高(ps级别),但是由于摆渡小所以边沿变化率要求不高。

在这里插入图片描述2, 耦合差分信号线的电磁干扰相互抵销,对外辐射小;

3, 耦合差分信号线抗电磁干扰性强。

  1. 允许输入的共模电压范围大,支持1V的共模偏置电压差(如上图所示);

  2. 传输线匹配简单。

——无论是使用电缆还是PCB走线,LVDS的高速信号传输都必须考虑阻抗匹配问题:阻抗不连续或终端不匹配会影响传输信号;所以需要控制传输线阻抗,并保证合适的端接。

1, 对于点到点的链路(LVDS),如下图所示,只需要使用100Ω端接在距离驱动器最远处;

——如果输出端和输入端共模偏置电压不匹配(或考虑上电时序的漏电影响),则需串接100nF电容器进行AC耦合,AC耦合电容器对信号传输影响不大(相当于短路,胖友们可以动手算一算:100nF电容器在100MHz频率时的阻抗是多少~)。

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2, 对于多分支总线(M-LVDS),如果驱动器在总线的一端,则可采用相同的端接方法(即,在距离驱动器最远端端接100Ω电阻,如下图所示);否则需要端接总线的两端。
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——M-LVDS可以实现点对多,而且长距离的传输(如下左图所示),与RS-485总线的应用有明显重叠;两者参数对比如下右图所示,有兴趣的胖友可以自行学习;本章不对M-LVDS和RS-485展
开分析

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3, 如下图所示,还有一种多点拓扑是:“半双工”拓扑;它由两个驱动/接收对组成,在单个互连上传输和接收两个点之间的信号。

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4,LVDS电路设计
对于LVDS PCB的设计来说,不论LVDS信号对数量是多少,都建议使用多层板,最少四层设置: LVDS、GROUND、POWER、TTL。

  1. 对 LVDS 信号和其它信号(举个栗子,TTL 信号;避免受到干扰),最好能使用不同的走线层,如果因为设计限制必须使用同一层走线,LVDS 和 TTL 的距离应该足够远,至少应该大于 3~5 倍差分线间距;

  2. 保证收发器到接插件的距离足够短,防止由于 Stub 线过长引起信号的崎变,一般要求距离小于 10mm;

  3. 对收发器的电源使用滤波电容,滤波电容的位置应该尽量靠近电源和地管脚,滤波电容其的容值参照器件手册;

——如果没有推荐滤波电容器值,那么可以按照1个uF级电容(举个栗子:10uF)+每个管脚1个100nF电容的经验值进行设计。

  1. 对电源和地管脚与参考平面的连接应该使用短和粗的连线连接,同时使用多点连接;

——参考《电源完整性》相关章节,主要为了减小寄生电感。

  1. 对走线的阻抗要求进行控制,一般差分阻抗控制在 100 欧姆;

——匹配电阻的阻值可以进行调整,根据差分线阻抗和输出差模电压范围来决定。

  1. 对走线方式的选择没有限制,微带线和带状线均可,但是必须注意有良好的参考平面。对不同差分线之间的间距要求间隔不能太小,至少应该大于 3~5 倍差分线间距;

  2. 对接收端的匹配电阻到接收管脚的距离要尽量的靠近(一般小于 7mm,最大不能超过 12mm); 未使用的输入管脚可以悬空,如下图所示;
    在这里插入图片描述

  3. LVDS 在电缆中的使用同在 PCB 中的使用方式并无大的差别,需要注意在不同电缆中 LVDS 差分信号需要不同的排布方式,如下图所示;

——电缆本身的插损需要满足支持该频率高速信号传输,举个栗子:屏蔽双绞线比较适合作为 LVDS 传输的介质,CAT3 电缆可以传输 5m,CAT5 电缆可以传输更远距离的 LVDS 信号。

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### 回答1: Xilinx-lvds输入接口设计主要是实现对高速差分信号传输的支持,其基本构成由lvds输入模块和相关电路组成。由于lvds电平具有高噪声容限、低功耗、高速传输等优点,在高速数据传输领域被广泛应用。在设计xilinx-lvds读写功能时,首先需要开发相应的硬件平台,然后在该平台上构建读写操作的相关逻辑电路。 xilinx-lvds输入接口的设计需要注意以下几点: 1.物理层接口设计。应根据实际应用需求,选择合适的差分信号传输线路,并对线路进行一定的优化设计,以提高传输质量、降低噪声等级。 2.信号解调设计。应该根据lvds信号传输的协议规范,对差分信号进行解调,提取操作所需的有效信号,以满足读写操作的需要。 3.芯片外部器件设计。应根据芯片器件的规格书要求,选用合适的外部器件,如电阻、电容等,以提高信号品质,降低噪声。 4.读写逻辑电路设计。在上述基础上,可以构建读写操作相关的逻辑电路,通过适当的组合与调试,实现对操作信号的读写控制。 最终,执行性能测试,以验证xilinx-lvds输入接口设计的正确性和稳定性。掌握上述关键技术,可以根据不同的应用要求,实现高速、稳定的lvds数据传输与读写功能。 ### 回答2: 在设计LVDS输入接口时,需要考虑多个因素。 首先,需要确定电路中使用的LVDS芯片,以便确定其电气特性。接着,需要对输入信号进行差分和偏置控制。 在使用Xilinx FPGA实现LVDS读写功能时,需要使用FPGA的IO Banks,其中包括LVDS IO。具体步骤为:首先,将LVDS接口通过差分器连接到IO端口上。然后,需要对IO Banks进行正确的布置和引脚映射,以确保LVDS信号能够被正确接收和发送。 接下来,需要使用芯片供应商提供的LVDS驱动器和接收器(例如TI或ADI)来配置芯片。要注意的是,在使用LVDS接口时,时序约束非常重要,尤其是时钟和数据的延迟和对齐问题。 在完成LVDS接口的硬件设计后,需要使用FPGA设计软件实现读写功能。可以使用Xilinx提供的IP核或自己编写Verilog代码来实现。根据芯片的不同,可能需要对接口进行协议转换(例如,从LVDS到DDR3)。 最后,需要进行测试和验证,确保接口能够正常运行并符合时序约束。这可以通过使用示波器等测试工具来完成。 总之,设计LVDS输入接口需要考虑多个因素,并在硬件和软件层面上进行仔细设计和测试。 ### 回答3: 在Xilinx FPGA设计中,设计LVDS输入接口是一项常见的任务。要实现LVDS输入,需要考虑电源和传输线路的噪声,以及时钟精度和稳定性等方面的问题。下面是一些常见的步骤和技巧,用来设计Xilinx LVDS读写功能的实现。 首先,需要使用LVDS接收器芯片来接收传输线路上的LVDS信号。在Xilinx FPGA中,推荐使用ISERDES模块来实现LVDS输入。ISERDES模块可以将LVDS信号转换为FPGA内部的信号。在使用ISERDES模块时,需要注意时钟的相位和时序同步。 其次,需要考虑双差输入和共模抑制的问题。双差输入是指LVDS信号是两个互为反相的信号,需要对两个信号进行差分输入。共模抑制是指尽可能排除共模噪声干扰,提高信号的稳定性和可靠性。 最后,需要仔细设计PCB布局,保证LVDS接收器芯片的电源和地线稳定,以及传输线路的匹配和降噪设计。同时,还需要根据具体的设计要求选择适当的输出接口,例如LVDS输出或TTL输出。 综上所述,实现Xilinx LVDS读写功能的关键是设计合理的接收器电路、时钟同步和匹配,降低噪声干扰,提高信号的可靠性和稳定性。在实际的设计过程中,需要仔细考虑系统要求、布局约束和测试方法等方面的问题,以确保设计的可行性和可靠性。
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