蓝桥杯javaC组——基础练习题【芯片测试】

【BASIC-23 芯片测试】

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

 

输入格式

 

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

 

输出格式

 

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

 

样例输入

 

3

1 0 1

0 1 0

1 0 1

 

样例输出

 

1 3

解题思路

将测试结果存放二维数组中，双for循环累计测试结果，判断一下芯片次数大于芯片数一半的即为好芯片

提示代码

import java.util.*;

public class Main{


    public static void main(String[] args){

        Scanner in = new Scanner(System.in);
        int n = in.nextInt();
        int[][] test = new int[n][n];
        for (int i = 0; i < n; i++) {
            for (int j = 0; j < n; j++) {
                test[i][j] = in.nextInt();
            }
        }
        for (int i = 0; i < n; i++) {
            int count = 0;
            for (int j = 0; j < n; j++) {
                if (i != j)
                    count += test[j][i];//好的比坏的多，所以被多次判定为坏，这个就是坏的
            }
            if (count >= n / 2)
                System.out.print(i + 1 + " ");
        }
    }
}