芯片测试
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问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
思路:
因为题目中说超过一半的芯片是好的,而且好芯片测的是正确的。所以假设所有的芯片都是好的,除了自己测自己之外(当 i==j 时)。剩下的好的个数超过全部芯片一半。所以只要根据 每一列的所有测试结果(因为题目上说,数据表示用第 i 块芯片测试第 j 块芯片时得到的测试结果。所以将每一列的数据相加,就是ans。当然 i!=j 时),判断其为好芯片的总数 ans>=n/2 的时候,这个芯片就是好芯片。
完整代码:
#include<iostream>
using namespace std;
int a[25][25];
int main()
{
int n;
cin>>n;
for(int i=1;i<=n;i++)
{
for(int j=1;j<=n;j++)
{
cin>>a[i][j];
}
}
for(int i=1;i<=n;i++)
{
int ans=0;
for(int j=1;j<=n;j++)
{
if(i!=j)
{
ans+=a[j][i];
}
}
if(ans>=n/2)
{
cout<<i<<" ";
}
}
return 0;
}