PCI Express学习篇---物理层电气特性(三)Transmitter Compliance Test

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PHY Electrical Compliance Test分为Transmitter Compliance Test和Receiver Compliance Test. 

本篇介绍Transmitter Compliance Test。

关于Transmitter Compliance Test Base Spec中有描述，但是描述的是针对Captive Channel的测试方法。

DUT是待测试的芯片，要测试的是发送端的device pin，但是无法直接测量，将device pin在PCB上引出一段走线，在TP1处测量，引出的这条trace称为“breakout channel”；

另外复制了一条相同的channel，称为“Replica Channel”，Replica Channel的S参数可以测量；

Replica Channel是为了de-embedding（移除）break channel对Compliance Test的影响，最终得到device pin处的特性。