【PCIe】物理层电气特性--Transmitter Compliance Test

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PHY Electrical Compliance Test分为Transmitter Compliance Test和Receiver Compliance Test. 

本篇介绍Transmitter Compliance Test。

关于Transmitter Compliance Test Base Spec中有描述，但是描述的是针对Captive Channel的测试方法。

 

DUT是待测试的芯片，要测试的是发送端的device pin，但是无法直接测量，将device pin在PCB上引出一段走线，在TP1处测量，引出的这条trace称为“breakout channel”；

另外复制了一条相同的channel，称为“Replica Channel”，Replica Channel的S参数可以测量；

Replica Channel是为了de-embedding（移除）break channel对Compliance Test的影响，最终得到device pin处的特性。

 

Base Spec针对的是Captive Channel的测量，Captive Channel指的是受限信道，两个device都在同一PCB上，

与之对应的是Not Support Captive Channel，是指CEM Form Factor中描述的，分为System board, Add-in Card这样的结构。

以下是关于Not Support Captive Channel(System board+Add-in Card)的Compliance Test (以16GT/s为例)

在PCIE4.0的测试中，首先使用PCIe协会提供的PCIe夹具把被测信号引出（CBB板用于插卡的测试，CLB板用于主板的测试），然后通过测试夹具上的切换开关控制DUT输出PCIe一致性测试码型。

以下为System Board的Compliance测试方法：

 

连接关系如下图所示：CLB插入system board(DUT)--->ISI--->Scope 

ISI是一个loss可变的PCB板
Scope是一个带宽25GHz的示波器
示波器内嵌3dB Package model
系统需要上电，DUT发送16GT/s Compliance Pattern
每个均衡的preset捕获2M个UI(125us)的波形。波形需要后处理（参考时钟要同时capture, Behavior Rx EQ）

测量BER=10^-12时的眼高眼宽，每一条lane都必须在至少一个TX EQ Preset时满足 EW>0.39UI EH>23mV (此标准缺少cross-talk，带crosstalk的眼图标准在第七篇CEM眼图标准博文中介绍);
检测收到的data pattern是Compliance Pattern(这个检查是informative，不是强制标准)

同理Add-in card(AIC)的测量方法如下：

 

 

连接关系如下图所示：AIC(DUT)插入CBB--->ISI--->Scope 

20dB additional loss(包含5dB package loss)
Scope是一个带宽25GHz的示波器
示波器内嵌5dB Package model
系统需要上电，DUT发送16GT/s Compliance Pattern
每个均衡的preset捕获2M个UI(125us)的波形。波形需要后处理（CDR算法用于恢复时钟, Behavior Rx EQ）

测量BER=10^-12时的眼高眼宽，每一条lane都必须在至少一个TX EQ Preset时满足 EW>0.39UI EH>24mV (缺少cross-talk等因素,标准还需要调整);
检测收到的data pattern是Compliance Pattern(这个检查是informative，不是强制标准)

Compliance Pattern设置

 

在PCIE4.0的测试中，首先使用PCIe协会提供的PCIe夹具把被测信号引出，然后通过测试夹具上的切换开关控制DUT输出PCIe一致性测试码型。

在切换板上的按键开关时，正常的PCIe被测件依次会输出2.5GT/s、5GT/s -3dB、5GT/s -6dB、8GT/s P0~P10、16GT/s P0~P10的码型

 

需要注意的一点是，由于PCIe信号如前所述共有11种Preset值，测试过程中应明确当前测试的是哪一种Preset值，做信号质量测试常用的有Preset7、Preset8、Preset1、Preset0等。
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