芯片功能测试pattern调试

连续2周去了上海advantest调试量产芯片的功能测试pattern。

交通：打的在田林路，古美路口下。

这次我用perl直接生成asc格式的pattern，调试起来非常方便。有需要修改的地方直接可以修改。

对调试的时间不宜估计得太乐观。

11/21，修改perl，使之符合asc格式

11/22，将i2c配置和ts比较2个文件合并

11/23，使用match方法比较ts头

11/24，使用比较i2c高位的方法，确定最大值比较。没有办法选出0值

11/28，调试ate读结果，可以在pattern结束后读出i2c寄存器的值

11/29，调试锁定问题，未果。

11/30，去处match方法，使用比较后处理，使得4个site可以同时工作。

12/1，选择了一个时间窗，对所以好片与坏片都测试一遍，得到统计数据。