芯片的ATE测试简介

ATE：Automatic Test Equipment，即自动测试设备，它用于芯片大规模生产测试，保障稳健（质量、成本和进度）的供应 。

ATE测试基本的覆盖理念：主要是结构性测试，即Structure Test，再辅以一定的功能和性能测试，与Function测试有较为明显的差异，ATE测试重点在于检测制造缺陷。常见的ATE测试类别如下：
1）IO类：
---主要用JTAG进行覆盖，并且会进行一些DC参数的测试，如VIH、VIL、VOH、VOL、Leakage等。

2）Digital Logic类：
---主要用SCAN方式进行覆盖，如Stuck-at、transition等，若存在覆盖率问题可添加功能向量。

3）Memory类：
---主要用BIST方式进行覆盖。

4）IP类：
---内嵌数字电路：用SCAN覆盖。
---模拟电路：测试功能和性能，辅以BIST。

5）功耗类：
---通常采用IDDQ进行覆盖，亦可进行动态功耗测试。

6）特殊类：
---Die ID、基准trim、加密烧写、SIP、POP、分级筛选等。