手机零部件三维光学测量解决方案

在移动互联网时代，智能终端深受市场追捧，而智能手机占据了第一大移动智能终端的地位。市场的火热造就了手机厂商白热化的竞争，继CPU、屏幕、摄像头等硬件配置大战之后，以外观、设计、质量为切入点的设计及功能竞争，也日趋激烈。
在手机设计、质量检测中，无论是手机中框还是屏幕，利用三维光学测量技术，有助于优化从原型和模具构建、首件检验报告到装配分析等环节的质量控制，并有效节省检测时间，快速推进新产品上市。
另外，基于全场的三维光学追踪测量，可以让手机物理部件彼此之间进行校准和定位，并将最佳虚拟校准值转移到手机部件中；质量测试可检查产品的质量可靠性和生命周期。
外形测量-XTOM-MATRIX

XTOM-MATRIX系列三维扫描系统
XTOM-MATRIX系列三维扫描系统，基于双目立体视觉原理，采用蓝光投射外差式多频相移技术，实现非接触式的物体表面三维数据的细致、精确、快速获取。与接触式单点测量的三坐标相比，XTOM-MATRIX测量效率高、数据量多、易于数模比对，适合高精度物体、复杂曲面及柔性表面的测量。其主要应用方向为逆向建模以及质量检测。
手机中框检测
手机中框是手机的“骨架”，在制程过程中由于制造工艺或质量控制问题，可能会产生中框不平滑、不对称、发生畸变、刮伤等问题，容易对手机产品造成刮伤、划伤或密封不严等缺陷，需对其外观检测，以确保其质量可靠。
XTOM-MATRIX三维扫描仪，可对手机中框进行扫描检测，获取高精度的三维