MOSFET数据手册怎么看?!【扫盲篇】

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极限参数也叫绝对最大额定参数,MOS管在使用过程当中,任何情况下都不能超过下图的这些极限参数,否则MOS管有可能损坏。

  • VDS表示漏极与源极之间所能施加的最大电压值。VGS表示栅极与源极之间所能施加的最大电压值。ID表示漏极可承受的持续电流值,如果流过的电流超过该值,会引起击穿的风险。IDM表示的是漏源之间可承受的单次脉冲电流强度,如果超过该值,会引起击穿的风险。
  • EAS表示单脉冲雪崩击穿能量,如果电压过冲值(通常由于漏电流和杂散电感造成)未超过击穿电压,则器件不会发生雪崩击穿,因此也就不需要消散雪崩击穿的能力。EAS标定了器件可以安全吸收反向雪崩击穿能量的高低。
  • PD表示最大耗散功率,是指MOS性能不变坏时所允许的最大漏源耗散功率,使用时要注意MOS的实际功耗应小于此参数并留有一定余量,此参数一般会随结温的上升而有所减额。(此参数靠不住)
  • TJ, Tstg,这两个参数标定了器件工作和存储环境所允许的结温区间,应避免超过这个温度,并留有一定余量,如果确保器件工作在这个温度区间内,将极大地延长其工作寿命。
  • dV/dt反映的是器件承受电压变化速率的能力,越大越好。对系统来说,过高的dv/dt必然会带来高的电压尖峰,较差的EMI特性,不过该变化速率通过系统电路可以进行修正。
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    热阻表示热传导的难易程度,热阻分为沟道-环境之间的热阻、沟道-封装之间的热阻,热阻越小,表示散热性能越好。

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  • △VDS/TJ表示的是漏源击穿电压的温度系数,正温度系数,其值越小,表明稳定性越好。
  • VGS(th)表示的是MOS的开启电压(阀值电压),对于NMOS,当外加栅极控制电压 VGS超过 VGS(th) 时,NMOS就会导通。
  • IGSS表示栅极驱动漏电流,越小越好,对系统效率有较小程度的影响。
  • IDSS表示漏源漏电流,栅极电压 VGS=0 、 VDS 为一定值时的漏源漏流,一般在微安级。
  • RDS(ON)表示MOS的导通电阻,一般来说导通电阻越小越好,其决定MOS的导通损耗,导通电阻越大损耗越大,MOS温升也越高,在大功率电源中,导通损耗会占MOS整个损耗中较大的比例。
  • gfs表示正向跨导,反映的是栅极电压对漏源电流控制的能力,gfs过小会导致MOSFET关断速度降低,关断能力减弱,过大会导致关断过快,EMI特性差,同时伴随关断时漏源会产生更大的关断电压尖峰。

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  • Ciss表示输入电容,Ciss=Cgs+Cgd,该参数会影响MOS的开关时间,该值越大,同样驱动能力下,开通及关断时间就越慢,开关损耗也就越大。
  • Coss表示输出电容,Coss=Cds+Cgd;Crss表示反向传输电容,Crss=Cgd(米勒电容)。这两项参数对MOSFET关断时间略有影响,其中Cgd会影响到漏极有异常高电压时,传输到MOSFET栅极电压能量的大小,会对雷击测试项目有一定影响。
  • Qg、Qgs、Qgd、td(on)、tr、td(off)、tf这些参数都是与时间相互关联的参数。开关速度越快对应的优点是开关损耗越小,效率高,温升低,对应的缺点是EMI特性差,MOSFET关断尖峰过高。
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  • IS 、ISM这些参数如果过小,会有电流击穿风险。
  • VSD、trr如果过大,在桥式或LCC系统中会导致系统损耗过大,温升过高。
  • Qrr该参数与充电时间成正比,一般越小越好。

文章来源:https://zhuanlan.zhihu.com/p/136604491


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