DDR3芯片读写控制及调试总结 — Xilinx FPGA(MIS)

 

目录

                                                                      DDR3芯片读写控制及调试总结

1.  器件选型及原理图设计

       (1) 由于是直接购买现成的开发板作为项目前期开发调试使用,故DDR3芯片已板载,其型号为MT41J256M16HA-125,美光公司生产的4Gb容量DDR3芯片。采用2片DDR3芯片并联模式,即共用地址信号线、控制信号线,数据信号线进行扩展为单片位宽的2倍。那么,如果采用4片进行并联连接,则位宽扩展为4倍。(FPGA关于DDR3控制器的上限物理数据管脚位宽为72位,故原理图设计时,不要超过该上限即可。)   

标题   7系列FPGA支持的DDR3芯片型号表

 

       (2)虽说开发板厂家已确保硬件设计完美可靠,但是作为用户开发者,至少还是需要弄明确厂家的设计人员设计思路及参考依据。本质上就是想象自己重新设计硬件原理图。开发板DDR3芯片及控制部分原理图如下所示。(采用的是黑金开发板)

图1   DDR3芯片物理管脚连接图

 

(3)原理图分析。

供电电源:DDR3芯片采用1.5V电源供电,还有低电压DDR3芯片是1.35V供电。故VDD、VDDQ均为1.5V,VSS均接地。

参考电压:数据信号线参考电压 VREFDQ,地址信号及控制信号参考电压VREFCA,均为0.5* VDD。

输入时钟:DDR3芯片采用差分输入时钟,可以由外部有源晶振直接提供,还可以由源端FPGA提供,采用后者更灵活。

例如: -125速率等级的DDR3芯片上限工作频率为1600M T/s,用户可以使其工作在1200M,1000M, 800M等等。故采用FPGA提供DDR3的工作时钟。 

注意:工作频率1600M T/s  ≠ ≠ 1600Mb/s,因为在FPGA的MIG控制器中,会写成Mb/s,造成初学者的误解。因为如果当前DDR3芯片的DQ数据管脚位宽为x16,工作频率为1600M T/s,那么该DDR3芯片极限带宽为:1600x16Mb/s,所以二者是不相等的单位。

 

2.  DDR3芯片物理参数简介

几个重要的物理参数见上图所示,具体含义可以参考博文:http://blog.chinaaet.com/justlxy/p/5100051913

 

关于DDR3芯片还有两个重要的概念:预加载Prefetch, 突发长度Burst Length

        所谓prefetch,就是预加载,这是DDR时代提出的技术。在SDR中,并没有这一技术,所以其每一个cell的存储容量等于DQ的宽度(芯片数据IO位宽)。【关于什么是cell(存储单元参考博文:http://blog.chinaaet.com/justlxy/p/5100051913 )】

        进入DDR时代之后,就有了prefetch技术,DDR是两位预取(2-bit Prefetch),有的公司则贴切的称之为2-n Prefetch(n代表芯片位宽)。DDR2是四位预取(4-bit Prefetch),DDR3和DDR4都是八位预取(8-bit Prefetch)。而8-bit Prefetch可以使得内核时钟是DDR时钟的四分之一,这也是Prefetch的根本意义所在。

        Burst Lengths,简称BL,指突发长度,突发是指在同一行中相邻的存储单元连续进行数据传输的方式,连续传输所涉及到存储单元(列)的数量就是突发长度(SDRAM),在DDR SDRAM中指连续传输的周期数。上一部分讲到的Burst Type和Burst Order实际上就是关于Burst Length的读写顺序的配置。在DDR3 SDRAM时代,内部配置采用了8n prefetch(预取)来实现高速读写.这也导致了DDR3的Burst Length一般都是8。当然也有Bursth ength为4的设置(BC4),是指另外4笔数据是不被传输的或者被认为无效而已。在DDR2时代,内部配置采用的是4n prefetch,Burst length有4和8两种,对于BL=8的读写操作,会出现两次4n Prefetch的动作。

参考博文:http://blog.chinaaet.com/justlxy/p/5100052027

 

3.  新旧两代DDR3 控制器对比 — MIS vs MIG

上一代MIG控制器 — Spartan6系列

标题   写指令时序控制图

 

标题     写数据操作时序控制图

 

        由上一代MIG控制器可知:  写指令操作 和 写数据或读数据操作是完全独立的,二者之间没有相互联系,时序控制容易实现。

cmd_bl连续指令写入的长度限制为2^6=64,故MIG单次连续写操作和连续读操作的数据长度上限为64,这个限制其实是由指令缓存FIFO的存储深度决定的。

 

新一代MIS控制器 — 7系列FPGA等

图4   非连续写操作时序图

        由上图可知,新一代MIS控制器写指令操作 和 写数据操作不再是完全独立,二者有着时序上的关联,这就为初次使用者带来麻烦。因为习惯上一代控制器MIG,就很容易忽视 地址控制信号和数据控制信号的时序匹配问题。

        非连续写操作时,设计者需要关注地址控制信号和数据控制信号的时序匹配问题。当写指令操作使能后,提前1个clock或者至多延迟2个clock必须给数据。

 

图5  连续写操作时序控制图

 

        连续写操作时,由Figure1-49黄色高亮文字说明可知,设计者此时无需关注地址控制信号和数据控制信号的时序匹配问题。只需要保证写指令的有效个数(app_en控制)和写数据(app_wdf_wren)的有效个数均相同即可。此处文档说明我经过实际板级验证是可行的。

 

4.  MIS控制器使用体会

        (1) 单个数据写操作  — 因为读操作很简单,故此处只讨论写操作

        地址控制信号与写数据信号严格按照时序图图4要求即可,最好是都对齐。  判定写允许信号可以设定为app_rdy & app_wdf_rdy。 为简单起见,可令app_wdf_end = app_wdf_wren。且注意app_en信号有效时间为1clock,不要随意延长为2clock。如果是单个数据写操作一直写入100个数据,那么app_en信号和app_addr信号有效时间均为100clock,且需要完全对齐,且不要随意延长。我就是吃过这个亏,导致写入数据看起来是符合的。但是读数据时发现读出的数据前几个会不断变化出错。(时序还是需要严谨的)

       (2) 连续写操作  — 由于写数据不用受到写指令时序的影响,可以让地址控制信号与写数据控制信号完全独立。分别用独立的计数器是控制各自的有效时间。通过实际调试发现:app_wdf_rdy有效时间 比 app_rdy有效时间更连续。举例说明如下:

假设单次写入数据长度为128个,当写数据计数器累加到128时,可能写指令有效计数器此时为100。那么状态机可以切换到下一个状态,改状态只进行写指令操作而不进行写数据操作(因为写数据操作已完成,快于写指令操作),直到写指令计数器也累加到128,从而单次写入数据操作才算是最终完成。

        说明:实际测试可知,如果一直单个数据写操作,本质上等效于连续的写操作,但是因为单个数据写操作判定写允许信号设定为app_rdy & app_wdf_rdy,要写指令ready信号和写数据ready信号同时有效才可以,故实际可能比真正的连续写操作耗时要略微多一丢丢。两种方法测试写入504个数据长度,其实差别很小。  但是前者方法更容易理解,编程更容易一些。

 

5.  调试结果

图6  连续写入单个数据结果图   —   1~504

 

图6  连续写入单个数据结果图    —   1~504

 

图7   读出写入的数据   —   1~504

 

图7   读出写入的数据   —   1~504

 

 


 

 

 

 

制作日志: /****************************2016-07-10 更新*********************************/ 经过不知道多少个工作日空余时间和周末业余时间,终于大致设计板子浮出水面,等待后续检查。 板子采用4层PCB,层叠情况:Top -> GND -> Power -> Bottom板子芯片情况: (1) FPGA: Xilinx Spartan6系列的XC6SLX16-FTG256 (2) DDR3: Micron的MT41J128M16,2Gbit存储容量 (2) 电源:采用2片Onsemi的NCP1529分别为FPGA Core 1.2V和DDR3 1.5V提供电源 /****************************2016-07-18 更新*********************************/ PCB打样回来了,5mil/5mil的线宽线距,10mil的过孔,花了我好多大洋!!!赶紧贴板子去了!! 贴完再上照。 /****************************2016-07-19 更新*********************************/ 搞了一个上午,终于搞定第一个板子,FPGA的1.2V VDDCore电压,1.5V的DDR3供电电压, VREF的0.75V电压都OK。往FPGA内部下载点灯程序OK,往SPI FLASH固化程序也OK。 下一步,DDR3 的MCB实现。 /****************************2016-07-23 更新*********************************/ 经测试,第一版的DDR3可以正常稳定运行在400MHz,全地址空间读写数据无任何问题。 现在开始准备第二版,打算生成100个pcb,并且会将阻焊颜色由绿色改为黑色。 具体设计细节和第一版的区别如下: (1) IO引脚数量由原来的80个增加到86个IO; (2) 所有引出的差分线尽量保持等长; (3) 电容部分进行了改进,每个DC/DC输出都增加了铝电解电容,增加可靠性,铝电解电容都放在背面。 下面是第二版的图片: /****************************2016-07-26 完成*********************************/ 2Gbit全地址空间测试完成,用的是Xilinx提供的MCB IP硬核,附件是原理图和说明书,欢迎下载。
### 关于DDR3读写信号时序图 DDR3读写操作依赖复杂的时序控制,其核心在于理解各个关键信号的作用以及它们之间的关系。以下是关于DDR3读写信号时序的关键点: #### 1. **DDR3读写时序的核心信号** DDR3接口涉及多个重要信号,这些信号共同定义了读写操作的行为[^1]: - `CK`: 时钟信号,用于同步所有其他信号的操作。 - `CS#`: 芯片选择信号,低电平有效,表示当前芯片被选中。 - `RAS#`, `CAS#`, `WE#`: 行地址选通信号、列地址选通信号和写使能信号,这三个信号组合决定了具体的操作类型(如激活行、预充电或数据传输)。 - `ADDR`: 地址总线,指定要访问的具体存储单元位置。 - `DQ`: 数据输入/输出引脚,负责实际的数据交换。 #### 2. **DDR3读取时序分析** 在DDR3的读取过程中,主要关注以下几个阶段: - **行激活**: 使用`ACTIVATE`命令打开所需的行,此过程由`RAS#`触发。 - **列寻址**: 发送`READ`命令并提供具体的列地址,通过`CAS#`完成。 - **延迟等待 (`tRCD`)**: 在发送`READ`命令之前,需要等待一定的时间以确保行已完全激活。 - **数据返回时间 (`CL`)**: CAS Latency (CL) 定义了从发出`READ`命令到第一个数据位到达所需的时间步数。 #### 3. **DDR3写入时序分析** 对于写入操作,流程类似于读取,但有一些不同之处: - 同样先执行行激活(`ACTIVATE`) 和 列寻址(`WRITE`) 命令。 - 需要注意的是,在写入前也需要满足一定的延迟条件,比如`tWR`(Write Recovery Time),即写恢复时间。 - 写入期间,目标数据会通过`DQ`引脚传送到DRAM内部缓冲区,并最终保存至相应的存储单元。 #### 4. **连续读写的注意事项** 当涉及到连续读写时,需特别注意避免重复发送相同地址指令的情况。例如,在Xilinx MIG IP核的应用场景下,如果持续保持`ddr3_app_en=1`而未改变`ddr3_app_addr`值,则可能导致一系列针对同一地址的冗余请求,从而引发性能下降或其他异常行为[^2]。 #### 示例代码片段展示如何配置基本参数来实现简单的DDR3读写功能 ```verilog always @(posedge clk or negedge reset_n) begin : ddr_ctrl_logic if (!reset_n) begin app_cmd <= CMD_IDLE; app_addr <= &#39;b0; app_en <= 1&#39;b0; end else case(app_state) IDLE_STATE: begin // 设置初始状态为闲置 app_cmd <= CMD_READ; // 或者CMD_WRITE取决于需求 app_addr <= target_address; app_en <= 1&#39;b1; next_state <= WAIT_FOR_DATA; end WAIT_FOR_DATA: begin app_en <= 1&#39;b0; // 取消使能直到下一个周期再启动新事务 if(data_ready_signal) next_state <= PROCESS_DATA; end default: ; endcase end ``` 以上代码仅为示意性质,展示了设置基础读写命令的大致逻辑结构。
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