IC front-end design engineer

1、IC前端设计

IC前端设计指逻辑设计，前端主要负责逻辑实现，通常是使用verilog/VHDL之类语言，进行行为级的描述，当然，也会要使用一些仿真软件；
除了RTL编程和仿真这两个基本要求外，前端设计还可以包括IC系统设计、验证(verification)、综合、STA、逻辑等值验证(equivalence check)。其中IC系统设计最难掌握，它需要多年的IC设计经验和熟悉那个应用领域，就像软件行业的系统架构设计一样，而RTL编程和软件编程相当。适合作为IC设计的入门。还有一些即可以属于前端也可以属于后端的灰色领域，比如DFT(design for test)。
参考：可测性设计（DFT）介绍-入门篇）
随着芯片的制程越来小(5nm), 芯片的规模越来越大，对芯片的测试也就变得越来越困难。
而测试作为芯片尤为重要的一个环节，是不能忽略的。DFT也是随着测试应运而生的一个概念，目前在芯片设计中都离不开DFT。指的是在芯片原始设计中阶段即插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，通过这部分逻辑，生成测试向量，达到测试大规模芯片的目的。【测试模式】
Design–实现特定的辅助性设计，但要增加一定的硬件开销
For test–利用实现的辅助性设计，产生高效经济的结构测试向量在ATE上进行芯片测试。
注：ATE是Automatic Test Equipment的缩写， 于半导体产业意指集成电路(IC)自动测试机， 用于检测集成电路功能之完整性， 为集成电路生产制造之最后流程， 以确保集成电路生产制造之品质。
在所有的电子元器件(Device)的制造工艺里面，存在着去伪存真的需要，这种需要实际上是一个试验的过程。为了实现这种过程，就需要各种试验设备，这类设备就是所谓的ATE(Automatic Test Equipment)。 这里所说的电子元器件DUT(Device Under Test)，当然包括IC类别，此外，还包括分立的元件，器件。ATE存在于前道工序(Front End)和后道工序(Back End)的各个环节，具体的取决于工艺(Process)设计的要求。
通盘而论，两大部类，
〔1〕核心测试构造：承袭于传统的测试技术，检测技术，自动的实施信号处理（电子信号测量）。针对不同的DUT的测试提案不同，核心测试构造也会有所不同。〔2〕计算机控制构造：处理的速度和能力，取决于当时的计算机能力。计算机技术事实上已经变成了通用技术了，对于一套ATE来说，高指标的计算机不见得是最好的计算机，满足系统的需要，协调才是最好的标准。事实上，复杂的ATE设备的价格，相对于先进的高指标的服务器价格来说，相当于巨人跟侏儒的婴儿的关系了。 总体上来说，计算机技术的作用，控制系统的协调，控制信号的注入路径，控制数据的采集和处理，