双端口SRAM中读干扰问题

双端口SRAM在提供高速独立访问的同时,存在读写干扰问题,尤其是在同行存取和异步存取时。读干扰发生在两个端口对同一行进行操作时,伪读取会降低RSNM,增加读取时间并可能导致单元翻转;写干扰则会影响数据写入。目前,针对这种干扰尚无完美解决方案。

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普通的存储器器件为单端口,也就是数据的输入输出只利用一个端口,设计了两个输入输出端口的就是双端口sram。虽然还具有扩展系列的4端口sram,但双端口sram已经非常不错了。双端口sram经常应用于cpu与其周边控制器等类似需要直接访问存储器或者需要随机访问缓冲器之类的器件之间进行通信的情况。

从存储单元来看,双端口SRAM只是在单端口SRAM的基础上加上了两个存取管(见图1),但要实现两个端口对存储单元的独立读写,还要对新增的端口复制一套单端口SRAM的读写外围电路。然而这样虽然增强了存储器的读写能力,但却是以降低存储单元的稳定性为代价的,具体表现为双端口SRAM的两个端口进行同行存取时发生的读写干扰(Read/WriteDisturbance)问题;并且当两个端口进行异步存取时,读写干扰会表现出一定的规律性;对读写干扰问题目前尚未找到完美的解决方法,现有的各个方法都具有一定的侧重方向。
在这里插入图片描述
图1双端口SRAM单元

读干扰的原理分析

如图2(a)所示,当双端口SRAM的两个端口对不同的行进行操作时,只有连接在WLAn-1和WLBn上的存取管才会被打开,即一个双端口SRAM存储单元只有两个存取管被打开,所以此时双端口SRAM单元可以像单端口SRAM单元一样工作。但是如果两个端口对同一行进行操作时,如图2(b),由于半选择问题该行所有存储单元的所有存取管都将被打开。当一个进行读操作的存储单元的所有存取管都被打开时,和单端口SRAM读操作时存取管降低RSNM同理,该单元的RSNM将有更大幅度的下降&#x

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