自动控制原理期末复习（Part4根轨迹分析）

本文涉及图片均来自《自动控制原理（第2版）》（清华大学出版社）

第四章 线性系统的根轨迹分析法

通过上一章可以看出，可以利用系统的闭环极点的分布来间接研究控制系统的性能。但对于高阶系统，手动求解闭环特征方程难度极大，而且当系统的参数发生变化时闭环特征根又需要重复计算，还看不出直观的变化趋势。

根轨迹是一种图解分析方法，基本思路是：当开环系统的一个或多个参数发生变化时，根据系统开环零极点，借助若干条绘图准则，绘制出闭环特征根变化的轨迹，简称根轨迹；利用根轨迹法可以分析闭环系统的稳定性，计算或估算闭环系统的瞬态和稳态性能指标，确定闭环系统某些参数对系统性能的影响，以及对闭环系统进行校正等。

一、根轨迹的幅值和相角条件（了解）

依据开环传递函数的零极点形式与时间常数形式（$\nu$型系统）：
$$G_k(s)=k_g\frac{\prod _{j=1}^m(s+z_j)}{\prod _{i=1}^n(s+p_i)}=K\frac{\prod _{j=1}^m({\tau }_{j}s+1)}{\prod _{i=1}^n(T_{i}s+1)},K=k_g\frac{\prod _{j=1}^m{z}_j}{\prod _{i=1}^{n-\nu }{p}_i}$$
若闭环传递函数为：$$\Phi (s)=\frac{G(s)}{1+G(s)H(s)}=\frac{G(s)}{1+G_k(s)}$$
则闭环特征方程为：$$1+G_k(s)=0$$
即：$$k_g\frac{\prod _{j=1}^m(s+z_j)}{\prod _{i=1}^n(s+p_i)}=-1$$
当根轨迹增益变化时，满足上式的对应于所有的$k_g$的$s$值就是闭环传递函数的极点，这些极点在$s$平面上连接而成的图线就是闭环系统的根轨迹，因此也将上式称为负反馈闭环控制系统的根轨迹方程。

当$k_g\ge 0$，此时求解根轨迹方程，可得：
$$k_g\frac{\prod _{j=1}^m|s+z_j|}{\prod _{i=1}^n|s+p_i|}\cdot e^{j\left[\sum _{j=1}^m\angle (s+z_j)-\sum _{i=1}^n\angle (s+p_i)\right]}=-1$$
将下面两个式子称为$180°$等相角根轨迹的幅值和相角条件：
$$k_g\frac{\prod _{j=1}^m|s+z_j|}{\prod _{i=1}^n|s+p_i|}=1\text{\hspace{1em}(a)}$$
$$\sum _{j=1}^m\angle (s+z_j)-\sum _{i=1}^n\angle (s+p_i)=(2k+1)\pi ,k=0,\pm 1,\dots \text{\hspace{1em}(b)}$$
同理，可以写出$k_g\le 0$时求解根轨迹方程的结果。
将下面两个式子称为$0°$等相角根轨迹的幅值和相角条件：
$$|k_g|\frac{\prod _{j=1}^m|s+z_j|}{\prod _{i=1}^n|s+p_i|}=1\text{\hspace{1em}(c)}$$
$$\sum _{j=1}^m\angle (s+z_j)-\sum _{i=1}^n\angle (s+p_i)=2k\pi ,k=0,\pm 1,\dots \text{\hspace{1em}(d)}$$

二、绘制根轨迹的基本规则

记住下表

规则	180°等相角根轨迹	0°等相角根轨迹
起点和终点	起始于开环极点，终止于开环零点（包括无穷远点）	同左
实轴上根轨迹	实轴某点右侧开环有限零点和有限极点数目之和为奇数，则该点是根轨迹上的点	实轴某点右侧开环有限零点和有限极点数目之和偶数（包括0），则该点是根轨迹上的点
渐近线条数	$n-m$	同左
渐近线与实轴交点	$s=-\sigma =-\frac{\sum _{i=1}^n{p}_i-\sum _{j=1}^m{z}_j}{n-m}$	同左
渐近线与实轴夹角	$\varphi =\frac{(2k+1)\pi }{n-m}$	$\varphi =\frac{2k\pi }{n-m}$
分离汇合点	求解方程$N^{\prime }D-N{D}^{\prime }=0$或$\sum _{i=1}^n\frac{1}{s+p_i}=\sum _{j=1}^m\frac{1}{s+z_j}$，其中$N(s)=\prod _{j=1}^m(s+z_j),D(s)=\prod _{i=1}^n(s+p_i)$	同左
分离汇合点处的根轨迹增益	$k_{gd}=-\frac{D(s)}{N(s)}=-\frac{D^{\prime }(s)}{N^{\prime }(s)}$	同左
出射角	${\theta }_{p_k}=\pi +\sum _{j=1}^m\angle (-p_k+z_j)-\sum _{i=1,i\ne k}^n\angle (-p_k+p_i)$	${\theta }_{p_k}=\sum _{j=1}^m\angle (-p_k+z_j)-\sum _{i=1,i\ne k}^n\angle (-p_k+p_i)$
入射角	${\theta }_{z_k}=\pi -\sum _{j=1,j\ne k}^m\angle (-z_k+z_j)+\sum _{i=1}^n\angle (-z_k+p_i)$	${\theta }_{z_k}=-\sum _{j=1,j\ne k}^m\angle (-z_k+z_j)+\sum _{i=1}^n\angle (-z_k+p_i)$
与虚轴的交点	令$s=j\omega$，代入闭环特征方程求$\omega$和$k_g$；或用劳斯判据求临界稳定时的闭环特征根	令$s=j\omega$，代入闭环特征方程求$\omega$和$k_g$；或用劳斯判据求临界稳定时的闭环特征根

三、基于根轨迹法的系统性能分析

增加开环零极点对根轨迹的影响

1. 控制系统增加开环零点，通常使根轨迹向左移动或弯曲，使系统更加稳定，系统的瞬态过程时间缩短，超调量减小。
2. 控制系统增加开环极点，通常使根轨迹向右移动或弯曲，使系统的稳定性降低，系统的瞬态过程时间增加，超调量以及振荡激烈程度由系统的主导极点决定。