格创东智凭AI视觉检测产品,获TCL年度技术创新一等奖

TCL第八届技术创新大会上,格创东智凭借基于人工智能迁移学习的缺陷检测分类系统获得技术创新一等奖。该系统应用于TCL华星光电,显著提升了检测速度和准确率,替代了国外算法平台,实现年效益超千万。同时,其面板外观检查项目荣获二等奖,展现技术研发创新实力。

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11月15-16日,TCL第八届技术创新大会暨第三届全球技术合作开放大会在深圳举行。大会以“创新‘核’引擎”为主题,展示TCL各产业创新技术和产品。

TCL董事长李东生、TCL科技COO王成、TCL实业CEO杜娟、TCL华星COO赵军等集团、各产业领导、技术负责人和研发骨干们均出席会议;还有来自北京大学、香港科技大学、瑞典皇家科学院、剑桥大学、IBM、西门子、百度等高校、科研院所和著名科技企业的技术大咖,以人工智能技术、新型显示技术、半导体光伏及智能制造为主题,为TCL技术将士们呈现了一场“饕餮盛宴”。

01 领奖篇|研发领域顶级荣誉

作为TCL研发领域最重磅的荣誉,“2020-2021年度TCL技术创新奖”也在本次大会上由李东生董事长颁发。格创东智凭借“基于人工智能迁移学习的缺陷检测分类系统”,与TCL工业研究院、TCL华星光电携手,荣获“TCL年度技术创新一等奖”!
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基于人工智能迁移学习的缺陷检测分类系统典型应用之一是格创东智为TCL华星光电打造的“ADC缺陷识别分类系统”,是业界最早导入、行业应用最广的AI视觉检测产品,由格创东智自主研发,完全替代国外算法平台,收益显著(替代50%以上人力,AI识别速度提升5-10倍、准确率从人眼85%提升到90%以上,实现效益超千万/年)。

此外,格创东智“面板外观检查AOI-AI一体机研发项目”还荣获“TCL集团技术创新大赛二等奖”!“双喜临门”,印证格创东智技术研发创新硬实力!

02 展位篇ÿ

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