【ESP32s3-espidf】电容[Touch]触摸引脚

gyui21g

已于 2024-07-24 17:46:40 修改

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文章标签：单片机嵌入式硬件

于 2024-06-04 12:47:53 首次发布

本文链接：https://blog.csdn.net/gyui21g/article/details/139437656

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ESP32S3自带电容触摸引脚的代码比较简单，配置代码放在这文章方便以后直接copy。这个电容引脚作用是测试一些功能时可以替代外置的物理按键电路，人手控制一些代码的开关。我用ESP-IDF环境编译。

一、结构原理和一些重要函数API

1.1 引脚和结构

可以设置为Touch的引脚为GPIO1~14。

电容触摸模块是物理硬件，乐鑫已经给我们做好，放在CPU外面。右边的图是硬件FSM（有限状态机），作为Touch模块的核心控制器，我们就是对这个东西进行配置控制即可，有限状态机详细原理不用了解。其他denoise unit、filter unit、scan_ctrl等硬件也可以灵活选择或不用管。

T0引脚不能对外使用，没有引脚焊盘。T0作用是作为空白对照组，理论上影响T0引脚的噪声因素如温度也会影响其他引脚，所以Touch模块的降噪算法就是减去T0感知到的噪声。

1.2 采样测量原理和测量值

FSM设备会释放标准的三角波给引脚电容，相当于给电容进行周期性的充放电。FSM控制开始充放电，同时FSM内部的脉冲计数器和时间计数器启动，测量完成N次充放电的任务需要多少us时间。充电时要让电压升到指定阈值才算测量成功，而人手触摸引脚会导致电容增大，充电时间变长。一次测量任务持续时间应小于1ms。

读数的返回结果就是时间值，即：耗时多长完成N次充放电。

因此，读出来的raw value越大反映了充电时间较长，人手接触面积越大，读数值越大。官方的其他API给我们配置的就是各种能影响采样时长的参数，比如电压上下限（电容充到多高的电压(DREFH）算是完成充电，放到多低的电压（DREFL）算是完成放电）、斜率控制（充电电流的大小（slope）也能影响采样时间）、采样次数（charge_discharge_times）。这些杂项我们可以不用配置，下文1.3会简单提及。

1.3 其他功能函数API的简单介绍

（1）滤波

滤波分为denoise和filter两种方式。

denoise就是依靠T0悬空引脚测量的干扰值来指示全局干扰的情况，相当于空白对照组来排除共模干扰，代码中任何情形都推荐使用此功能。由于这是硬件，需要配置set_config()、enable()的代码进行启动。后面还会重点讲这个，因为esp官方讲得很少。

filter是IIR滤波器，也是物理滤波，滤去高频噪声，用数学公式平滑数据。这个滤波会涉及后面读数API中的smooth（）和benchmark（）读数。smooth（）读数是一系列经过IIR滤波的移动平均数值。benchmark（）数值是从启动至今的平均值，移动平均的窗口比smooth数值更长，几乎不受单次的触摸测量值的影响。

本质上这两个读数跟raw_value没什么区别。