《炬丰科技-半导体工艺》半导体晶圆制造调度方法

本文提出了一种改进的移动瓶颈启发式算法,用于半导体晶圆制造过程的调度优化,旨在最小化完工时间、周期时间和总加权延迟。通过合意性功能在问题解决程序级别和机器关键度量级别实现多标准优化。实验结果显示,合意性方法在复杂工作车间模型中的性能优于传统方法。
摘要由CSDN通过智能技术生成

书籍:《炬丰科技-半导体工艺》

文章:半导体晶圆制造调度方法

编号:JFKJ-21-707

作者:炬丰科技

摘要

在本研究中,我们将一个半导体晶圆制造过程建模为一个复杂的工作车间,并采用一种改进的移动瓶颈启发式算法(MSBH)来促进完工时间、周期时间和总加权延迟的多标准优化。合意性功能在MSBH的两个不同级别实现问题解决程序级别(SSP级别)和机器关键度度量级别(MCM级别)。此外,我们还提出了两种不同的选择关键工具组的方法:(1)局部多模型方法,它基于来自SSP级别的局部合意性值来选择关键工具组;(2)全局多模型方法,它基于关键工具组对整个析取图合意性的影响来选择关键工具组。结果证明了基于期望的方法同时最小化所有三个目标的能力。

介绍

   本文中,我们讨论了一种新的半导体晶圆制造设施(“晶圆厂”)调度方法的开发

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