光电成像传感器噪声

光电成像传感器作为一种半导体图像传感器，其主要原理是内光电效应。因此光的粒子性和半导体对热的敏感性这两种基本特性都会在成像过程中得到体现，也就是光生电子和热生电子。

暗电流噪声：半导体热效应产生热生电子，即暗电流信号，暗电流信号与光生电荷信号一样以信号形式存在，但是对于成像传感器而言，暗电流信号不是有效信号。暗信号噪声属于热生电子型噪声，受环境温度和器件积分时间影响较大，通过控制环境温度并且在相同状态下减去暗场图像可以实现对该噪声的消除，即在温度恒定，积分时间固定的条件下，将输入照度降为 0，即采集暗场图像。

散粒噪声：光子散粒噪声是由于光子发射的随机性造成的，这种随机性在时间域和空间域均存在。在时间域上的表现为同一像素在相同光照和固定积分时间下，每次积分过程中势阱内搜集的电荷均不同，变化具有随机性，基本符合泊松分布。在空间域上的表现为在相同光照和固定积分时间下，一次积分过程中不同像素势阱内搜集的电荷均不同，且变化具有随机性，同样符合泊松分布。这种随机噪声无法减少和抑制，因此成为限制光电成像传感器信噪比的基本限制因素。
由于该噪声是无法消除的，因此不能直接通过电路设计抵消。这里利用散粒噪声属于随机噪声的特性，采用多次测量取平均的方法消除。具体为在相同光照、温度和积分时间条件下采集 N 帧图像，求取单个像素 N 次采样的均值 ，这样即消除了单像素散粒噪声的影响。

光子响应非均匀性噪声：光子响应非均匀性噪声是由器件制造过程中各像素的通光面积以及膜层透光程度的差异引起的，体现了像素间响应度的差异，属于固定的系统噪声，该噪声也无法通过电路抑制，但如果能够进行精确的测试，可以通过后续的图像处理进行校正和补偿。

KTF噪声，读出噪声，量化噪声：在由驱动电路引入的噪声中,部分噪声可以通过相关电路的设计进行消除，如KTC 噪声，而电路读出噪声或量化噪声不可以减少和抑制，它在使用过程中作为本底噪声一直存在。

 

参考资料：

孙慧，徐抒岩等，光电成像传感器光子响应非均匀性噪声评价方法研究，2015。