测量的 S 参数的专家分析

介绍

关于S 参数分析的教程有很多。主题通常包括如何识别端口图、插入损耗和回波损耗是什么样子，以及各种S 参​​数在时域中是什么样子。对于初学者来说，这非常有价值。在这里，我们将简要解释这些主题，并添加一些在数据挖掘 S 参数时使用的额外分析技术。

S 参数简介

S 参数基本上是传递函数。您可以将频域中的刺激（例如脉冲）乘以 S 参数，然后获得该脉冲通过 S 参数所表示的通道后的响应。该通道可以是无源通道（例如电缆）或有源通道（例如 CTLE）。

因此，基本思想是使用 S 参数来了解信号通过这个黑匣子后会发生什么。在双端口 S 参数中，S21 和 S12 是插入损耗或传输参数，它们应该大致相同。S11 和 S22 是回波损耗或反射参数。如果设备不对称，这些参数可能是唯一的。这些参数通常以电压 dB 为单位绘制。

其中，A 是您的输入 S 参数：S21、S11 等。

在此示例中，S21 和 S12 几乎完全相同。S11 和 S22 有一些显著差异，例如 S22 在 18 GHz 左右有较大的谐振，而 S11 则没有。

在这里，我想向你透露一些额外的知识。不要只看 S 参数的幅度（单位为 dB）；还要看相位。使用以下公式计算相位：

 

您还需要展开相位。展开相位只是意味着每次相位移动 2 x PI 时增加或减去 2 x PI，因此相位看起来像一条直线。下面左侧的图是展开的，右侧的图是展开的。

Phase 可以回答几个问题：

1. 是否有足够的数据将其纳入时间域？
2. 该数据在整个测量频带内有效吗？
3. 这个结构的延迟是多少？

让我们一次解决一个问题。

是否有足够的数据将其纳入时间域？

为了回答所有这些问题，我们将研究传输参数S21。相位应以负斜率从 DC 单调移动到最高可用频率。这意味着在展开之前，从 -pi 到 pi 的移位之间有多个点。如果移位之间有一个或更少的点，则在执行从频率到时间的转换时会发生所谓的混叠。当这些 S 参数转换为时域时，数据看起来比平常更短，甚至是非因果的（t=0 之前的信息）。在这些情况下，时域信息基本上无法使用。在这些情况下，展开的相位从 DC 到最高频率具有正斜率，我在下面的图 x 中有一个这样的例子。要解决此问题，请以较小的频率步长测量 S 参数。通常，10 MHz 步长的 S 参数永远不会出现此问题。

该数据在整个测量频带内有效吗？

让我们看一些测量数据来回答这个问题。

 

左侧的数据以分贝为单位，右侧是展开的相位。您可以看到插入损耗，数据在 15 GHz 左右变得模糊，但回波损耗看起来还好。如果您查看相位，它一开始有一个负斜率，这是好的。然后在 16 GHz 左右，您可以看到斜率变为零。这是因为 S 参数位于 VNA 的本底噪声处，而 VNA 不再能获取相位。当斜率像这样变为 0 时，S 参数无效。并不总是可以解决这个问题。VNA 的本底噪声约为 80 到 110 dB，具体取决于 IF 带宽设置（较低的 IF 带宽，较低的本底噪声）。时域 VNA 的本底噪声接近 -40dB。

该结构的延迟是多少？

信号完整性工程师通常使用阶跃响应来测量时域延迟。他们测量来自 TDR 的输入阶跃的 50% 交叉点。然后，他们测量通过被测设备的输出的 50% 交叉点。这种方法有一些流行的修改方法，例如取阶跃响应的导数并测量每个峰值的延迟而不是 50% 交叉点。还有一种方法是在固定电压下测量交叉点，而不是阶跃的相对幅度。最后，您还可以测量不同的交叉点，例如 5% 点。

所有这些都很好，但还有一些可以改进的地方。首先是使用不同的测试设备进行延迟测量的想法。如果只需要一个设备就更好了，而且我们知道 VNA 的本底噪声较低，因此 VNA 显然是首选的测量设备。其次是实验室之间的一致性。VNA 可以轻松实现 NIST 可追溯参考平面，并进行短路-开路-负载和未知-直通校准。TDR 的校准不是 NIST 可追溯的，这使得实验室之间的关联非常困难。最后，还有数据传输。时域数字数据没有标准格式，通常与 Excel 电子表格共享。VNA 数据有许多标准格式，包括无处不在的试金石文件。实际上所有 EDA 工具都接受试金石文件，并且有这种格式可以使通信变得更加容易。所以，让我们使用 VNA 并弄清楚如何从那里获得延迟。

第一种方法是执行与 TDR 相同的频率到时间转换操作。这种方法有几个优点。首先，您可以积分传递函数以获​​得阶跃响应。这样，就无需先测量输入阶跃，并且只需测量一个延迟，而不是两个。反对这种方法的理由是，频率到时间转换中可用的点会更少，并且您将面临太多不确定性。这是一个合理的观点，但是通过通道的阶跃响应的斜率非常一致，因此很容易插值到最接近的皮秒。阶跃的斜率变化不大，并且很容易获得准确的插值数据。

 

阶跃响应	放大

红色为原始数据，蓝色为样条插值法所得。数据游标为原始数据 50% 交叉点附近的离散点。

您可能会说：“是的，这很棒，但我不知道如何进行频率到时间的转换或插值。”好吧，这就是 VNA 更胜一筹的地方，因为您不需要这样做。如果我们再次查看相位，我们可以应用一个简单的公式来获得延迟。

这个等式的妙处在于，只需除以千兆赫兹的频率，就能得到纳秒级的延迟。

首先，请注意，我在阶跃响应图中将 y 轴与 x 轴绘制在相同的比例上。在阶跃响应中，延迟并不像频域方法中那样一致。从 10 GHz 到 50 GHz，延迟基本相同。这使得这种方法在实验室之间非常一致。接下来要注意的是，如图所示，25 GHz 的延迟与阶跃响应的延迟略有不同。这是因为 50% 的延迟出现在该图的低频某处，其中每个点的相位变化都很快。这也是阶跃响应方法对于实验室间相关性不太可靠的另一个原因。我还喜欢您可以选择一个频率点来使用，而不是交叉点，这不那么模糊，也​​不需要插值。

快速轻松地计算倾斜

调试通道时，偏移是首先要检查的内容之一。偏移是差分传输线正侧和负侧的延迟差。当传输线松散耦合时，此技巧可让您非常快速地计算偏移。首先，将单端 S 参数转换为模式转换。另一种说法是将 S 转换为 SCD。然后以 dB 为单位绘制 SCD21 数据并找到第一个最小值。

取频率的倒数，这就是偏差！让我们看看这与前面讨论的延迟方法如何一致。

线路 1 的延迟：1.38482356955646ns
线路 2 的延迟：1.42117027815264ns
延迟差异（偏差）：0.0363467085961828ns
从 SCD21 计算出的偏差：1/27.52 = 0.0363372093023256ns
误差：9.49929385720555e-06ns（几乎为零）

此技巧通常仅在偏差相对较大（>50 ps）时才有效。

共模告诉了你什么？

共模是一个经常被忽视的参数。它在电磁干扰(EMI) 讨论中出现，以帮助查找传输线内的泄漏。然而，共模可以帮助您了解您正在查看的内容、结构的工作原理以及可能出现问题的位置。

首先，让我们看看频域中的共模。在这里，您要比较共模插入损耗和差分插入损耗。这比较了信号返回路径与仅信号相比的表现如何。如果我们以这种方式查看带状线差分对，您会发现共模和差分模式的表现相似。我预计双轴电缆中也会有这种类型的行为。

当将互连放入通道中时，情况开始有所不同。共模开始偏离插入损耗。在这种情况下，它接近 20 GHz，我预计在存在此偏差的频率下会看到辐射或串扰增加。

另一个要查看的地方是阻抗。共模阻抗以 25 欧姆为参考。当阻抗低于 25 欧姆时，信号可能完全解耦，差分传输线阻抗低于 100 欧姆。这在系统中是一种相当典型的情况，因为许多集成商喜欢使用“松散耦合”差分对来帮助缓解偏差。当阻抗较高时，对内的耦合会增加。它也可能表明地面开始缺电。耦合带状线的阻抗可能在 25 欧姆到 28 欧姆之间（见下图），双轴电缆中的阻抗可能高达 32 欧姆。互连共模阻抗可能相对较高。例如，已知 QSFP 连接器的共模阻抗接近 50 欧姆。对于大多数系统来说这不是问题，并且在进行分析时，了解这种行为有助于您了解在寻找问题时互连中需要查找的位置。