多点温度测试

DS18B20温度传感器
一、简介：

图示有字的一面，注意GND和VCC不要接反。工作电压3.0v~5.5V，采集温度-55度到正125度，可编程温度9-12位，精度分别是0.5度，0.25度，0.125度0.0625度，默认都是12位，12位转换时间是750ms，9位是93.75ms，电压负压特性（不会因电源接反发热烧坏）。
二、电路连接：

接一个上拉电阻。
三、通信方式：
单总线通信：
单总线是一种具有一个总线主机和一个或若干个从机的系统。严格按照器件的时间要求进行复位，写命令，读写数据等。整个过程在一条线上进行。
四、DS18B20的内部结构：

64位光刻ROM，温度传感器，非易失性的温度报警触发器TH和TL，配置寄存器。出厂前ROM的排列是：开始8位产品类型标号（28H），接着48位是DS18B20全球唯一序列号，最后8位是前面56位的循环冗余校验码。
DS18B20存储器：

Byte0和Byte1分别存储温度寄存器的低字节和高字节，这两个字节是只读的。我们一般只操作这两个字节。

五、DS18B20的指令：
命令有两种，一种ROM的指令，一种暂存器的指令。

六、操作时序：
分为4个步骤：
1.复位：单片机发一个低电平给DS18B20，DS18B20返回一个低电平给单片机，完成唤醒握手。
2.发送ROM命令
3.发送暂存器指令
4.发送数据或接受数据
单个温度测试代码：

#include<All.h>
uchar xdata DS18B20_Buffer[2]=0;//保存温度的数据
void Delay500us()		//@24.000MHz
{
	unsigned char i, j;
	i = 16;
	j = 147;
	do
	{
		while (--j);
	} while (--i);
}
void Delay80us()		//@24.000MHz
{
	unsigned char i, j;
	_nop_();
	_nop_();
	i = 3;
	j = 123;
	do
	{
		while (--j);
	} while (--i);
}
void Delay60us()		//@24.000MHz
{
	unsigned char i, j;
	_nop_();
	i = 2;
	j = 220;
	do
	{
		while (--j);
	} while (--i);
}
void Delay10us()		//@24.000MHz
{
	unsigned char i;
	i = 78;
	while (--i);
}
void Delay2us()		//@24.000MHz
{
	unsigned char i;
	i = 14;
	while (--i);
}
/*********************************
 * @函数名：DS18B20_Reset
 * @描   述：复位
 * @说   明：
 * @参   数：无
 * @返回值：无 
 *********************************/
void DS18B20_Reset()
{
    DS18B20_DQ=0;//总线拉低
	Delay500us();//保持500us
	DS18B20_DQ=1;//短暂拉高
	Delay80us();//80us

	//等待拉低
	Delay500us();//返回一个106us的低电平
	DS18B20_DQ=1;
	_nop_();//短暂拉高
	_nop_();
}
/*********************************
 * @函数名：DS18B20_Write_Com
 * @描   述：写寄存器指令
 * @说   明：
 * @参   数：dat 要写入的数据
 * @返回值：无 
 *********************************/
void DS18B20_Write_Com(uchar com)
{
	uchar idata i;
	for(i=0;i<8;i++)
	{
      DS18B20_DQ=0;
	   Delay10us();//先拉低15us
		_nop_();
		DS18B20_DQ=(bit)(com&0x01);//先发低位
		com>>=1;//移位
		Delay60us();//继续拉低15us
		DS18B20_DQ=1;//短暂拉高
		Delay2us();
	}
}
/*********************************
 * @函数名：DS18B20_Read_Data
 * @描   述：读数据
 * @说   明：
 * @参   数：无
 * @返回值：dat  读出的数据 
 *********************************/
uchar DS18B20_Read_Data()
{
	uchar idata i,value;
	for(i=0;i<8;i++)
	{
	 DS18B20_DQ=0;
		Delay10us();
		value>>=1;
	 DS18B20_DQ=1;
		//Ds18B20会返回值。，无论是0还是1，都延迟15us
	 Delay2us();
	//	Delay15us();//先拉低15us
		if(DS18B20_DQ)//是1
			value|=0x80;//最低位
		Delay60us();
	}
return value;
}
/*********************************
 * @函数名：DS18B20_Handle
 * @描   述：温度处理
 * @说   明：1. 复位 2.发送ROM命令 3.发送暂存器指令 读RAM 4.数据
 * @参   数：无
 * @返回值：无
 *********************************/
void DS18B20_Handle()
{
	uchar xdata value_High,value_Low;
	float num;//保存小数
    DS18B20_Reset();//复位
	DS18B20_Write_Com(0xcc);//发送指令CCH，跳过ROM操作
	//DS18B20_Write_Com(0x33);//读64位ROM
	DS18B20_Write_Com(0x44);//发送指令44H，启动温度转换
	Delay10us();
	DS18B20_Reset();//复位
	DS18B20_Write_Com(0xcc);//发送指令CCH，跳过ROM操作
	DS18B20_Write_Com(0xbe);//发送指令BEH，读取9字节RAM数据的前两个数据
	Delay10us();
	value_Low=DS18B20_Read_Data();//先读低字节Byte0
	value_High=DS18B20_Read_Data();//高字节Byte1
	
	value_High<<=4;//整数的高3位
	value_High+=(value_Low&0xf0)>>4;//整数的低4位
	DS18B20_Buffer[0]=value_High;//整数
	num=(value_Low&0x0f)*0.0625;//小数
	DS18B20_Buffer[1]=(uchar)(num*100);//小数
}

多点测试：（两个）
步骤：
1.先读出每个传感器的唯一ROM序列；

/*********************************
 * @函数名：DS18B20_Read_64Rom
 * @描   述：读64位的ROM 唯一标识
 * @说   明：
 * @参   数：*buffer 读出的8个字节的数据
 * @返回值：无
 *********************************/
void DS18B20_Read_64Rom(uchar *buffer)
{
  	uchar i;
    DS18B20_Reset();//复位
	DS18B20_Write_Com(0x33);//读64位ROM
	for(i=0;i<8;i++) //读取64个字节
	 buffer[i]=DS18B20_Read_Data();
}

2.用两个数组存读出来的序列号：

3.写入ROm序列号，并启动转换温度：

/*********************************
 * @函数名：DS18B20_Write_Rom
 * @描   述：写64ROM
 * @说   明：发送匹配ROM命令 0x55再写入8字节的ROM
 * @参   数：*buffer 要发送的存放ROM的数组
 * @返回值：无
 *********************************/
void DS18B20_Write_Rom(uchar *buffer)
{
	uchar i;
   DS18B20_Write_Com(0x55); //ROM匹配 
	for(i = 0;i < 8;i++)
	DS18B20_Write_Com(buffer[i]); //写入8个字节的ROM
}
/*********************************
 * @函数名：DS18B20_Handle
 * @描   述：温度处理
 * @说   明：1. 复位 2.发送ROM命令 3.发送暂存器指令 读RAM 4.数据
 * @参   数：无
 * @返回值：无
 *********************************/
void DS18B20_Handle(uchar *buffer)
{
	uchar xdata value_High,value_Low;
	float num;//保存小数
    DS18B20_Reset();//复位
	//DS18B20_Write_Com(0xcc);//发送指令CCH，跳过ROM操作
	//DS18B20_Write_Com(0x33);//读64位ROM
    DS18B20_Write_Rom(buffer); //匹配ROM 并写入64ROM
	DS18B20_Write_Com(0x44);//发送指令44H，启动温度转换
	Delay10us();
	DS18B20_Reset();//复位
	 DS18B20_Write_Rom(buffer); //匹配ROM 并写入64ROM
	DS18B20_Write_Com(0xbe);//发送指令BEH，读取9字节RAM数据的前两个数据
	Delay10us();
	value_Low=DS18B20_Read_Data();//先读低字节Byte0
	value_High=DS18B20_Read_Data();//高字节Byte1
	
	value_High<<=4;//整数的高3位
	value_High+=(value_Low&0xf0)>>4;//整数的低4位
	DS18B20_Buffer[0]=value_High;//整数
	num=(value_Low&0x0f)*0.0625;//小数
	DS18B20_Buffer[1]=(uchar)(num*100);//小数
}

其他的都和单个测试是一样的。
测试结果：

另外附上主函数：

/*********************************
 * @函数名：main
 * @描   述：main函数，程序入口
 * @说   明：
 * @参   数：无
 * @返回值：无 
 *********************************/
void main()
{
	//uchar a[8];//存放读出来的ROM
	Uart1_Init();//串口初始化
	Send_String("多点温度测试：\n");
  while(1)
	{
	    DS18B20_Handle(DS18B20_Rom1);
		printf("温度1：%bd.%bd",DS18B20_Buffer[0],DS18B20_Buffer[1]);//串口打印温度
        putchar_End();//换行
//		DS18B20_Read_64Rom(a);
//		Send_String(a);
    	Delay1000ms();
		DS18B20_Handle(DS18B20_Rom2);
		printf("温度2：%bd.%bd",DS18B20_Buffer[0],DS18B20_Buffer[1]);//串口打印温度
		Delay1000ms();
		 putchar_End();//换行
	}
}