AHB SRAMC

设计需求

1. 支持低功耗（standby状态功耗会降低1000倍）；
2. 支持单周期读写；
3. 能够根据AHB总线的读写宽度进行相应的SRAM位宽选择；
4. 能够支持DFT/BIST测试；

设计层次

• 结合AHB_if的地址信号进行SRAM的片选，以及读写宽度的选择，从而进行低功耗以及位宽选择的功能的实现；
• 一个两位的多路选择器来实现DFT/BIST测试功能；
• 设计相应的AHB总线实现单周期读写（一个周期内完成读写，使用流水线设计）；

对于bist/dft的验证

• bist模块的单独验证：需要一个功能正确的SRAM模型，通过在模型中写入几位固定的值，进行bist测试，检测bist给出的结果正确与否，从而验证bist模块的正确性；
• SRAM功能的整体测试：两种方式，一种是单独对每一块进行bist测试；另外一种是将信号发送给索引的sram模块，对最后测试结果进行“与”运算，结果为1，则所有sram模块正确；结果为0，则存在错误的sram模块；
• DFT功能测试模式：只需将SRAM功能模块by_pass掉，对输入和输出寄存器连接进行测试。

实际设计功能

1. 32位AHB Slave interface；
2. 支持8位、16位、和32位的SRAM数据读写操作；
3. 支持SRAM的单周期读写；
4. 支持低功耗工作（8位/16位）；
5. 支持DFT/BIST功能

SRAMC功能模块4