X射线荧光光谱仪（XRF）

 

1.X射线荧光光谱仪（XRF）简介

 

       利用初级X射线激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析的仪器。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法（波长色散）和X射线能谱法（能量色散）。

       X射线荧光光谱分析本质上是表面分析。因此，要确保样品表面不受污染。X射线荧光分析是表面分析法，分析深度只有1到几微米。

 

2.XRF原理

 

      初级X射线与原子发生碰撞时，驱逐出一个内层电子而出现一个空位，使整个原子处于激发态，核外电子自发地由高能态跃迁到低能态，跃迁所产生的的能量以辐射的形式放出，即X射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。由于每种元素原子的电子能级是特征的，它受到激发时产生的X-荧光也是特征的，因此只要测定X射线的能量或者波长就可以判断出原子的种类和元素组成，根据X射线的强度就能定量测定所属元素的含量。

3.XRF基本构造

上：波长色散型：在波长色散X射线荧光光谱仪中，晶体被安装在样品和探测器之间，晶体和探测器按Bragg公式移动，以测量特定波长的荧光X