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RSS订阅转载 BIST
BIST测试技术，内建自测（Built-inSelfTest）Built-inSelfTest简称BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备（ATE）的依赖程度。BIST是一种DFT（DesignforTestability）技术，它可以应用于几乎所有电路，因此在半导体工业被广泛应用。举例来说，在DRAM中普遍使用的BIST技术包括在电路中
2010-03-29 11:29:00
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转载 Ad-hoc Test的测试介绍
“Ad Hoc” 原意是指 “特定的，一次性的”；就是为了某一个特定目的进行的测试，就这一次，以后一般也不会重复测试或是尝试性测试某种情况，来检测是否有问题所以并非像许多测试人员所讲的是”猴子测试”，误理解了什么是Ad Hoc Testing；正确的测试应是在测试过程中， “ad hoc”测试可以用来衡量当前测试用例的完备性，设计某些特定的，一次性的测试用例，去检查在现有测试用例之外的问题
2010-03-29 11:27:00
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空空如也
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