ENJ2005-C功率器件图示系统

1系统概述：
ENJ2005-C是一款很具有代表性的新型半导体功率器件图示系统，系统IV曲线自动生成，也可根据实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立，保证了数据的准确可靠。提供在线故障判断，遇到器件接触不良时系统自动停止测试。通过USB或者RS232与电脑连接，以及人机界面操作，即可完成测试，并实现结果以Excel和Date的格式保存。

ENJ2005-C is a representative new semiconductor transistor pictorial system. System IV curve is automatically generated. Also it can be set up according to the actual demand functional testing, and read the digital display results directly. All the curves generated by the system are built by the ATE system point by point,which ensures the accuracy and reliability of the data.
The system provides on-line fault judgment. It aborts test automatically when the device is in bad contact. The test can be completed by connecting to the computer via USB or RS232 through human-machine interface operation. The results can be saved in Excel and Date format.
2系统软件支持：
器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为Windows或WindowsNT的PC机上USB接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成，具有全屏显示和增强型编辑帮助。
一种填空式编程方法向用户提供简明、直观的使用环境。操作人员只需在提示下，输入所选器件系列名称和测试类型，并选择所需测试的参数，而不必具有专业计算机编程语言知识。完成一个器件的测试程序编制只需几分钟的时间，非常快捷方便。
3测试范围：
漏电参数：IR、 ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、
ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、
IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)
击穿参数：BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、VD、
BVCBO、VDRM、VRRM、VBB、BVR 、VD+、VD-、
BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO
导通参数：VCESAT、VBESAT、VBEON、VF、VT、VT+、VT-、VON、
VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、
VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)
Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)
关断参数：VGSOFF 触发参数：IGT、VGT
保持参数：IH、IH+、IH- 锁定参数：IL、IL+、IL增益参数：hFE、CTR、gFS 间接参数：IL
混合参数：rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation