DFT基础知识整理

站在一个IC前端设计人员的角度学习DFT基础知识，概念。

· 验证和测试的区别。

验证主要是确认功能，时序是否满足要求，一般在仿真环境中，输入激励，分析响应。根据验证阶段可以分为功能仿真，门级仿真，版图后仿真。

然而在芯片制造过程中，受到各种不确定因素的影响，制造出来的芯片并不完全都能正常工作，检测出有制造缺陷的芯片就是测试的范畴。测试要检查的不是设计的功能错误，而是芯片生产过程中引入的电路结构上的制造缺陷。对测试工程师来说，一块芯片的功能，用途都不重要，那些实在设计阶段由前端设计人员保证的内容。

为什么需要DFT。（Design For Test）

因为芯片设计规模越来越大，测试成本不断提高，封装后的芯片还要经过ATE（Auto Test Equipment）自动测试机台的检查后，才能够确保芯片质量，交付客户。测试机台的测试激励如果人为设定的话，很难保证故障覆盖率。为了方便测试激励的生成，在设计阶段就有意识的加入一定用于测试的附加逻辑，从而在测试阶段就能够通过ATPG（Auto Test Pattern General）自动生成测试向量，作为ATE的输入，同时产生期待值和ATE的输出比较，得到测试结果。完备的DGT设计可以提供高故障覆盖率的测试激励，保证芯片良率。

DFT的工作包括
    -- 在项目初期规划DFT架构；
    -- 在RTL级别设计测试电路；
    -- 在验证阶段验证测试电路；
    -- 在synthesis阶段实现测试逻辑的插入；
    -- 在测试阶段提供