【荐读 IEEE TPAMI】CADC++_ Advanced Consensus-Aware Dynamic Convolution for Co-Salient Object Detection

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CADC++: Advanced Consensus-Aware Dynamic Convolution for Co-Salient Object Detection

题目:CADC++: 用于共显著目标检测的先进共识感知动态卷积算法

作者:Ni Zhang; Nian Liu; Fang Nan; Junwei Han


摘要

在给定一组相关图像进行共同显著对象检测(Co-SOD)时,人类首先从整个组中总结共识线索,然后在每张图像中搜索共同显著对象。大多数先前的方法在总结阶段没有考虑鲁棒性、可扩展性或稳定性,并在搜索阶段采用简单的融合策略来融合共识和图像特征。我们的工作提出了一种新颖的共识感知动态卷积(CADC)模型,直接从“总结和搜索”的角度出发,明确有效地执行Co-SOD。在总结阶段,我们通过池化方法提取鲁棒的个体图像特征,并通过自注意力将它们整合以生成共识特征,从而建模可扩展性和稳定性。然后,我们同时学习两种类型的共识感知动态核,即通用核以捕获组内共同知识,以及自适应核以挖掘图像特定的共识线索。在第二阶段,我们采用动态卷积进行对象搜索。还开发了

IEEE TPAMIIEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence)是一个涵盖模式识别、计算机视觉、图像处理和机器学习等领域的高质量期刊,其中也包括用于缺陷检测的研究。 以下是一些在IEEE TPAMI期刊上发表的用于缺陷检测的论文: 1. "Automatic Defect Detection in X-Ray Images Using Convolutional Neural Networks"(使用卷积神经网络自动检测X射线图像中的缺陷)-- 该论文提出了一种基于卷积神经网络(CNN)的自动缺陷检测方法,该方法可以应用于各种类型的X射线图像中的缺陷检测。 2. "Unsupervised Defect Detection in Textured Materials Using Convolutional Autoencoders"(使用卷积自动编码器在纹理材料中进行无监督缺陷检测)-- 该论文提出了一种基于卷积自动编码器(CAE)的无监督缺陷检测方法,该方法可以有效地检测纹理材料中的缺陷。 3. "A Hierarchical Approach to Defect Detection in Semiconductor Wafer Images"(半导体晶圆图像缺陷检测的分层方法)-- 该论文提出了一种基于分层方法的缺陷检测方法,可以应用于半导体晶圆图像中的缺陷检测。 4. "Deep Learning-Based Defect Detection in Semiconductor Manufacturing"(基于深度学习的半导体制造中的缺陷检测)-- 该论文提出了一种基于深度学习的缺陷检测方法,可以应用于半导体制造中的缺陷检测,并且在实验中取得了良好的结果。 这些论文都展示了IEEE TPAMI作为一个重要的期刊,提供了广泛的研究和应用领域,包括缺陷检测。
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