TPAMI 2024 | 用于检测Transformer的无监督预训练

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题目:Unsupervised Pre-Training for Detection Transformers

用于检测Transformer的无监督预训练

作者:Zhigang Dai; Bolun Cai; Yugeng Lin; Junying Chen

源码链接: https://github.com/dddzg/up-detr


摘要

DETECTION TRansformer (DETR) 作为目标检测的一种框架,通过Transformer编码器-解码器架构,达到了与 Faster R-CNN 相媲美的竞争力。然而,DETR 在从头开始训练Transformer时,需要大规模训练数据和在 COCO 数据集上极其漫长的训练时间表。受到自然语言处理中Transformer预训练巨大成功的启发,我们提出了一种新颖的预训练任务,名为 Unsupervised Pre-training DETR (UP-DETR) 中的随机查询块检测。具体而言,我们从给定图像中随机裁剪块,然后将它们作为查询输入到解码器。该模型预训练用于从输入图像中检测这些查询块。在预训练期间,我们解决了两个关键问题:多任务学习和多查询定位。(1) 为了在预训练任务中权衡分类和定位偏好,我们发现冻结 CNN 骨架是预训练Transformer成功的先决条件。(2) 为了执行多查询定位,我们开发了带有注意力掩码的 UP-DETR,用于多查询块检测。此外,UP-DETR 还为微调目标检测和一次性检测任务提供了统一视角。在我们的实验中,UP-DETR 显著提高了 DET

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IEEE TPAMI(IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence)是一个涵盖模式识别、计算机视觉、图像处理和机器学习等领域的高质量期刊,其中也包括用于缺陷检测的研究。 以下是一些在IEEE TPAMI期刊上发表的用于缺陷检测论文: 1. "Automatic Defect Detection in X-Ray Images Using Convolutional Neural Networks"(使用卷积神经网络自动检测X射线图像中的缺陷)-- 该论文提出了一种基于卷积神经网络(CNN)的自动缺陷检测方法,该方法可以应用于各种类型的X射线图像中的缺陷检测。 2. "Unsupervised Defect Detection in Textured Materials Using Convolutional Autoencoders"(使用卷积自动编码器在纹理材料中进行无监督缺陷检测)-- 该论文提出了一种基于卷积自动编码器(CAE)的无监督缺陷检测方法,该方法可以有效地检测纹理材料中的缺陷。 3. "A Hierarchical Approach to Defect Detection in Semiconductor Wafer Images"(半导体晶圆图像缺陷检测的分层方法)-- 该论文提出了一种基于分层方法的缺陷检测方法,可以应用于半导体晶圆图像中的缺陷检测。 4. "Deep Learning-Based Defect Detection in Semiconductor Manufacturing"(基于深度学习的半导体制造中的缺陷检测)-- 该论文提出了一种基于深度学习的缺陷检测方法,可以应用于半导体制造中的缺陷检测,并且在实验中取得了良好的结果。 这些论文都展示了IEEE TPAMI作为一个重要的期刊,提供了广泛的研究和应用领域,包括缺陷检测
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