一、简介
SPAD,全称为Single Photon Avalanche Diode(单光子雪崩二极管),是一种高灵敏度的光电探测器件,能够在非常低的光照水平下检测单个光子。SPAD在工作时,当一个光子被探测器吸收后,能够触发一个雪崩效应,产生一个可以被检测到的电信号。
二、基本结构
按照光子入射方向,目前硅基SPAD器件主要分为前照式和背照式两种结构。
三、工作原理
单光子雪崩二极管是单光子成像的关键核心器件,其本质为一个工作在反向偏压下的PN结,且工作电压高于击穿电压,处于盖格模式,I-V特性曲线如图1(a)所示,反偏PN结能带结构及电子-空穴对输运过程如图1(b)所示。其基本原理为:当耗尽区(倍增区)没有自由载流子并且反向偏压达到雪崩击穿要求的数值时,SPAD将处于稳态,器件耗尽区中会形成很强的电场,但是没有自由载流子发生电离,待入射光产生的光生载流子注入至耗尽区,在雪崩倍增效应下连续碰撞电离后产生雪崩信号。SPAD具有高灵敏度和高增益的特点。
3.1 SPAD工作的详细步骤
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光电效应:当一个光子入射到SPAD上时,如果光子的能量足够,它能够在SPAD的耗尽区产生一个电子-空穴对。
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雪崩倍增:耗尽区具有高电场强度,新产生的电子-空穴对在电场作用下获得能量,并与晶格原子碰撞,产生更多的电子-空穴对。这个过程称为雪崩倍增效应,可以在极短的时间内产生大量的载流子。
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击穿与触发:SPAD工作在高于雪崩击穿电压的反向偏压下。当光子引发雪崩效应时,如果反向偏压足够高,SPAD将进入盖革模式,此时的增益理论上是无穷大,即单个光子就能使SPAD产生饱和的光电流。
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淬灭与恢复:雪崩一旦发生,SPAD需要迅速回到其原始状态以检测下一个光子。这个过程称为淬灭。通常,通过与一个大电阻串联来实现,雪崩电流流过这个电阻时,SPAD两端的电压降低,从而抑制雪崩。然后,通过电路使SPAD恢复到初始状态,以便再次检测光子。
3.2 淬灭电路
当单光子雪崩二极管被触发雪崩后,如果没有外界的作用,将一直维持在雪崩状态,无法再进行单光子检测,且过大的雪崩电流会使器件产生损耗,因此通常会将单光子雪崩二极管与淬灭-恢复电路联合使用。根据工作机制,淬灭-恢复电路可以分为被动式、主动式以及门控式三种。
以被动淬灭-恢复电路为例,分析其工作原理,最简单的被动淬灭-恢复电路是将SPAD直接与一个较大阻值电阻串联,如图所示。当SPAD被触发雪崩,雪崩电流流过淬灭电阻时,电阻上会产生足够大的压降,使得SPAD两端的偏置电压低于击穿电压,此时耗尽区的电场强度不足以让载流子继续引发碰撞电离,因此雪崩过程被淬灭。在雪崩淬灭后,PN结耗尽区的寄生电容将通过电阻缓慢充电到初始偏置电压,并具有再次进行单光子检测的能力。对于电阻淬灭恢复电路,恢复时间由RC时间常数决定,R为淬灭电阻阻值,C为耗尽区寄生结电容。雪崩二极管淬灭和恢复过程的持续时间又被称为死时间,如图8所示,处于死时间内的单光子雪崩二极管不具有检测光子的能力。
四、SPAD、APD、PD
SPAD | APD | PD | |
单光子雪崩二极管 | 雪崩光电二极管 | 光电二极管 | |
工作原理 | 工作电压高于雪崩击穿电压时,进入盖革模式。此时,光子入射产生的电子-空穴对在高电场下产生雪崩效应,触发一个可被检测到的电信号。 | 反向偏压超过其雪崩击穿电压时,进入雪崩模式。此时,光生载流子在高电场下发生碰撞电离,产生新的电子-空穴对,从而实现信号的倍增 | 当光照射到其PN结时,会产生电子-空穴对,形成光电流。 |
灵敏度 | 高 | 相比SPAD较低 | 低 |
检测 | 单个光子 | 广范围的光强 |
五、特性参数
- 光子探测效率(Photon Detection Efficiency, PDE):这是衡量SPAD检测光子能力的一个指标,表示在一定条件下,触发雪崩效应的光子占总入射光子的比例 。
- 暗计数率(Dark Count Rate, DCR):指在没有光照射的情况下,由于热噪声等因素引起的误计数率 。
- 定时抖动(Timing Jitter):指测量光子到达时间的精度,通常表现为时间测量的波动或不确定性 。
- 雪崩倍增因子:SPAD发生雪崩击穿后的电流与雪崩击穿前的电流的比值,即SPAD的电流增益 。
- 响应度:用来表示入射光产生的光电流和入射光的功率之间的关系 。
- 死区时间(Dead Time):SPAD在触发雪崩后,需要一段时间恢复到可以再次检测光子的状态,这段时间称为死区时间 。
- 后脉冲(Afterpulsing):雪崩发生后,由于电荷载流子的释放可能触发新的雪崩,产生额外的脉冲