模拟CMOS集成电路设计入门学习(11)

MOS为负载的差动对

下图是以二级管连接的MOS为负载的差动对

 

A_{v}=-g_{mN}(g_{mP}^{-1}||r_{ON}||r_{OP})\approx -\frac{g_{mN}}{g_{mP}}

用器件尺寸表示g_{mN}g_{mP},则有:A_{v}=-\sqrt{\frac{u_{n}(\frac{W}{L})_{N}}{u_{p}(\frac{W}{L})_{P}}}

下图是电流源负载的差动对

 A_{v}=-g_{mN}(r_{ON}||r_{OP})

回顾:

对于给定的偏置电流和输入器件的尺寸,电路的增益与PMOS管的过驱动电压成比例变化。为了得到更大的电路增益,必须减小(W/L),从而增大\left | V_{GSP}-V_{THP} \right |,降低X点和Y点的共模电平。

为了缓解上述问题,输入晶体管偏置电流的一部分可以由PMOS管来提供。

如下图所示:

 其目的是通过减小其电流而不是减小其宽长比来降低负载器件的g_{m}

以电流源为负载的差动对的小信号增益相对较小,该增益在亚微米级技术中一般在10到20之间。

我们可以采用共源共栅来增大PMOS和NMOS的输出阻抗,形成共源共栅级的差动形式

 所以,增益为:\left | A_{v} \right |\approx g_{m1}[(g_{m3}r_{o3}r_{o1})||(g_{m5}r_{o5}r_{o7})]

可见共源共栅极大地增大了电路的差动增益,但其代价却是消耗更多的电压余度。

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