unity 射线检测真机失效_XPS X射线光电子能谱介绍

世界最高性能的XPS光电子能谱分析！

发挥出在微小区域自动分析上的卓越功能！

X 射线光电子能谱学(XPS)通过使用X射线光束照射固体样品的表面并收集从样本表面放射的光电子光谱，来提供表面化学状态信息。通常，XPS 测量的分析深度小于10nm，同时取决于逸出电子的动能。光电子谱包含可用于识别被检测元素化学状态的结合能信息。

胜科纳米拥有的微区XPS分析仪器，其革命性超卓服务包括有：扫描式X射线源，达到最小的7.5um 分析束斑！双光束电荷中和枪可以分析非导体材料表面和深度分析，全套的元素价态分析数据库，再一次提供了最高性能的XPS系统，以满足您当前和未来的XPS需要。

X射线光电子能谱学(XPS)通过使用X射线光束照射固体样品的表面并收集从样本表面放射的光电子光谱

，来提供表面化

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学状态信息。通常，XPS测量的分析深度小于10  nm，同时取决于逸出光电子的动能。光电子光谱包含可用于识别被检测元素化学状态的结合能信息。

建基于非常成功的上一代QuanteraSXM之最新研发的Quantera-II XPS 分析仪器，其革命性超卓技术包括有：一个独创微集中扫描的X射线源，可以达到世界最小的7.5um  X射线，另专利的双光束的电荷中和技术

，在极低电压下仍可保持高性能的离子束源以进行XPS的深度分析，一个五轴精密的样品台和负责全自动样品传送的机械手支持互联网远程控制的仪器操作平台。Quantera II 增加了这些革命性的技术性能和生产力，再一次提供了最高性能的XPS系统，以满足您当前和未来的XPS需要。

X射线光电子能谱学(XPS)通过使用X射线光束照射固体样品的表面并收集从样本表面放射的光电子光谱

，来提供表面化学状态信息。通常，XPS测量的分析深度小于10  nm，同时取决于逸出光电子的动能。光电子光谱包含可用于识别被检测元素化学状态的结合能信息。

建基于非常成功的上一代QuanteraSXM之最新研发的Quantera-II XPS 分析仪器，其革命性超卓技术包括有：一个独创微集中扫描的X射线源，可以达到世界最小的7.5um  X射线，另专利的双光束的电荷中和技术

，在极低电压下仍可保持高性能的离子束源以进行XPS的深度分析，一个五轴精密的样品台和负责全自动样品传送的机械手臂，与及一个完全自动化且可支持互联网远程控制的仪器操作平台。Quantera II 增加了这些革命性的技术性能和生产力，再一次提供了最高性能的XPS系统，以满足您当前和未来的XPS需要。