MTBF-平均无故障时间

说明

公式：

MTBF=1/λ

假设一款硬盘MTBF高达250小时，约285年，并不是说这个硬盘能够工作285年不出故障，由MTBF=1/λ可知，λ=1/MTBF=1/285年，即该硬盘的平均年故障率约为0.3%，一年内，平均一千块硬盘有3块硬盘会出故障。

MTBF,即平均故障间隔时间，英文全称是"Mean Time Between Failure"。是衡量一个产品(尤其是电器产品)的可靠性指标。单位为"小时"。它反映了产品的时间质量，是体现产品在规定时间内保持功能的一种能力。具体来说，是指相邻两次故障之间的平均工作时间，也称为平均故障间隔。概括地说，产品故障少的就是可靠性高，产品的故障总数与寿命单位总数之比叫"故障率"(Failure rate)。它仅适用于可维修产品。同时也规定产品在总的使用阶段累计工作时间与故障次数的比值为MTBF。磁盘阵列产品一般MTBF不能低于50000小时。

360百科：

随着服务器的广泛应用，对服务器的可靠性提出了更高的要求。所谓"可靠性"，就是产品在规定条件下和规定时间内完成规定功能的能力;反之，产品或其一部分不能或将不能完成规定的功能是出故障。概括地说，产品故障少的就是可靠性高，产品的故障总数与寿命单位总数之比叫"故障率"(Failure rate)，常用λ表示。例如正在运行中的100只硬盘，一年之内出了2次故障，则每个硬盘的故障率为0.02次/年。当产品的寿命服从指数分布时，其故障率的倒数就叫做平均故障间隔时间(Mean Time Between Failures)，简称MTBF。

浴盆曲线

电子产品的寿命一般都符合浴盆曲线，可分为三个阶段:

1. 早夭期:由于设计，原材料，生产等可能出现的原因而导致一个较高失效率的阶段，也称失效率递减阶段，可通过环境应力筛选加以剔除，保证产品的可靠性。
2. 稳定期:这一阶段产品失效率近似一个常数，只有随机失效产生，MTBF即要得到这一阶段的寿命。
3. 耗损期:硬件故障期，产品这时已达到设计寿命，进入报废阶段。

明白了MTBF和"浴盆"曲线的基本概念，我们对评估产品的使用寿命有了一定的掌握。在合适工作条件下器件使用寿命期内的故障率很低。广大电子爱好者都知道电子元器件的寿命，与工作温度是有密切关系的。以电脑主板上常用的也常出故障的电解电容器为例，其寿命会受到温度的影响。因此，应尽可能使电容器在较低的温度之下工作，如果电容器的实际工作温度超过了其规格范围，不仅其寿命会缩短，而且电容器会受到严重的损毁(例如电解液泄漏)。因此，在分析电脑主板上电容器的工作温度时，不仅要考虑机箱内整体环境温度及电容器自身的发热，还要考虑机箱内其他发热元件的热辐射(特别是CPU、稳压器、电源供应器等)。

根据测试，通常2.0G的CPU消耗功率达56.7W，生成温度达70℃;而当频率提高至3.0G时， CPU温度往往超过90℃。在这样的高温烘烤下，主板上的电容器寿命会发生什么变化?

为简化起见，不考虑纹波、频率、ESR等因素，电容器的估计寿命可用下述公式表示:

其中，L0表示最高工作温度下的寿命，Tmax表示最高工作温度，Ta表示实际环境温度。由此可见，如果环境温度每升高10℃，电容器寿命将下降一倍!

由上图右面的曲线可明显看出，随着电容器工作环境温度的上升，其有效寿命急剧缩短。其中有效寿命(Useful life)是指该种电容器达到给定故障率的时间。

可靠性标准

1）MIL-HDBK-217F

美军标于1962年发布，是第一个基于标准的程序指导，是电子系统故障率计算的最古老的程序指导之一，并迅速成为全球标准。由于其在全球的高度认可，许多制造商仍然遵循它，即使它自1995年以来就没有公开维护过。

2）IEC 61709 (SN 29500)

在德国，西门子公司解决了可靠性问题，通过零部件、设备和系统制造商的经验，编写了西门子标准29500“元件失效率”。该标准非常通用，可应用于所有电子设备，包含了一个包含组件基础失效率的庞大数据库。

随着全球化的增加，在国际电工委员会（IEC）框架内创建了一个统一的程序指导。西门子标准SN 29500被确定为国际标准的基础，于1996年10月以IEC 61709“换算的故障率和应力模型的参考条件”标准的形式发布。它描述了定义、参考条件和转换模型，并与已存在的SN29500完全一致。IEC标准仅包括数学计算模型，而组件的基础故障率必须由制造商或现场经验确定。

IEC 61709于1998年3月被采纳为欧洲标准EN 61709，并于1999年1月以DIN EN 61709的形式发布。

3） Belcore/Telcordia SR-332

与军工行业平行，电信行业在20世纪80年代初制定了自己的实践准则。它们通常基于军用手册，但更专门处理特定行业标准。其中一些著名的代表有：

● 美国贝尔通讯研究公司的“电子设备可靠性预测程序”（TR-NWT-332）

● 英国电信的“电信系统中使用的元件可靠性数据手册”（HRD）

● 法国电信的“CNET可靠性数据汇编”（RDF）