馈线长度与信号衰减_信号反射噪声的改善方法及仿真验证

随着芯片生产工艺的改进，信号的上升时间越来越短，信号中包含的高频成分就越多，高频分量和通道间相互作用就可能产生严重的信号完整性问题。如果在产品设计周期中能尽早确定和消除信号完整性问题，产品的研制效率就可大大提升。

信号沿互连线传播时受到的瞬时阻抗发生变化时，一部分信号将被，另一部分发生失真并继续传播下去，这一原理正是单一线网中多数信号完整性问题产生的主要原因。只要信号遇到瞬态阻抗突变，就会发生发射使信号质量下降，一旦超出噪声容限就会造成误触发。

保持互连传输线阻抗恒定、进行端接匹配、优化拓扑结构等措施均是为了得到更优的信号质量。文中对信号反射问题进行了理论分析，提出信号反射噪声的改善方法，并结合工程案例进行了信号完整性仿真验证。

1 信号反射的形成

1.1 信号反射形成机理

信号沿传输线传输时，其路径上每一处的瞬态阻抗发生改变时，一部分信号将被反射，另一部分信号将继续向前传输。反射的信号量由瞬态阻抗的变化量决定。瞬态阻抗发生改变的地方称为阻抗突变点，即为图1中区域1和区域2的交界面。其中，Z₁表示信号最初所在区域的瞬态阻抗，Z₂表示信号进入区域的瞬态阻抗^[1]。

在阻抗突变处，电压和电流连续，即满足：

无论是发送端还是接收端，最终得到的波形都是入射波形和反射波形叠加的结果。

1.2 传输线不连续结构及阻抗突变测试TDR

阻抗突变也就是瞬态阻抗不连续。高速电路的不连续结构很常见，主要是互连线中的封装引线、输入门电容、信号层间的过孔、拐角、桩线、分支、测试焊盘、返回路径上的间隙、过孔区域中的颈状、线交叉、连接件等。

TDR(Time Domain Reflectometry)测试，是测量高速信号在传输线上的时域反射状况，来判断传输线阻抗特性的技术。TDR包括一个阶跃脉冲发生器和一个高速采样器，其示意如图2所示^[2]。

因为入射的阶跃脉冲的幅度是已知的，所以只要测量反射阶跃脉冲的幅度，就可以找出反射系数ρ，若仪器的输出阻抗Z₀是已知的，就可以计算反射点的阻抗值Z，阻抗计算公式为：

计算原理如图3所示，测试出的TDR阻抗曲线如图4所示。

1.3 信号反射的几种典型波形

信号反射典型的波形有：信号的振铃现象，如图5所示；信号边沿存在台阶的波形，如图6所示；信号边沿存在回沟的波形，如图7所示。