特征融合篇 | YOLOv5/v7 更换上采样方式 | 最近邻 / 双线性 / 双立方 / 三线性 / 转置卷积

已于 2024-02-07 14:45:57 修改
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分类专栏： YOLOv5/v7改进实战 文章标签： 深度学习 人工智能 计算机视觉
于 2022-06-22 20:56:23 首次发布
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本文介绍了如何在YOLOv5/v7中替换上采样方式，探讨了最近邻、双线性、双立方、三线性插值与转置卷积等方法，并分享了转置卷积的修改步骤和实验结果，展示不同k值对性能的影响。
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YOLOv5/v7 更换上采样方式

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改进YOLO系列：YOLOv5结合转置卷积，实现小目标涨点
qq_44224801的博客
04-06 1603
该函数是用来进行转置卷积的，它主要做了这几件事：首先，对输入的feature map进行padding操作，得到新的feature map；然后，随机初始化一定尺寸的卷积核；最后，用随机初始化的一定尺寸的卷积核在新的feature map上进行卷积操作。补充一下，卷积核确实是随机初始的，但是后续可以对卷积核进行单独的修改，比如使用双线性卷积核，这样的话卷积核的参数是固定的，不可以进行学习修改。下面对上面的过程进行演示。
Yolov5更换上采样方式( 最近邻 / 双线性 / 双立方 / 三线性 / 转置卷积)
@bangbang的博客
06-07 2998
l 1.2. 双线性插值(Bi-Linear interpolation) 1.3. 双立方插值(Bi-Cubic interpolation) 1.4 三线性插值(Trilinear Interpolation) 当align_corners = True时，线性插值模式(线性、双线性、双三线性和三线性)不按比例对齐输出和输入像素，因此输出值可以依赖于输入的大小 这里我将原本的最近邻插值的上采样方式替换为转置卷积；有人
YOLOv5改进 | Neck | 有效提升小目标检测效果【小白必备】
最新发布
kay_545
08-07 1411
yolov5，yolov5改进，GSConv, VoVGSCSP, VoVGSCSPC，slim-neck
yolov5的上采样层改为反卷积层
qiumokucao的博客
12-22 4569
对于有的硬件不支持上采样层的，可以将上采样层改为反卷积层。 修改配置文件： # parameters nc: 80 # number of classes depth_multiple: 0.33 # model depth multiple width_multiple: 0.50 # layer channel multiple # anchors anchors: - [10,13, 16,30, 33,23] # P3/8 - [30,61, 62,45, 59,119]
Yolov5调整空间金字塔池化SPPCSPC/上采样方式bilinear
m0_56247038的博客
08-25 1万+
​空间金字塔池化以及上采样方式的最佳选择
yolov5/v7 更换上采样方式( 最近邻 / 双线性 / 双立方 / 三线性 / 转置卷积) (新
12-28
在yolov5/v7中更换上采样方式为双线性、双立方或者三线性插值，可以在一定程度上提高物体检测的精确度和准确性，但需要考虑到计算复杂度和模型的训练时间。因此，选择合适的上采样方式需要综合考虑模型性能和实际...
主干网络篇 | YOLOv5/v7 更换骨干网络之 GhostNet | 从廉价的操作中生成更多的特征图
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深度学习几种上采样方法代码，最近邻插值，双线性插值，pixelshuffle，unpool，逆卷积等示例代码
03-22
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【目标检测实验系列】YOLOv5创新点改进实验：通过转置卷积，动态学习参数，减少上采用过程特征丢失，提高模型对目标的检测精度！（超详细改进代码流程）
弗兰-随风小欢的博客
12-03 1934
【目标检测实验系列】YOLOv5创新点改进实验：通过转置卷积，动态学习参数，减少上采用过程特征丢失，提高模型对目标的检测精度！（超详细改进代码流程）
图像常用的插值算法：最近邻插值、双线性插值和双三次插值算法
CFH1021的博客
04-26 1万+
图像常用的插值算法最近邻插值算法双线性插值算法双三次插值(bicubic)算法三种插值算法的优缺点 插值算法是图像缩放中的一项基本且重要的算法；在图像缩放中，输出图像像素点坐标可能对应输入图像上几个像素点之间的位置，这个时候就需要通过灰度插值处理来计算出该输出点的灰度值。图像插值是图像超分辨率的重要环节，不同的插值算法有不同的进度，插值算法的好坏也直接影像着图像的失真程度。常用的插值算法有以下三种...
【YOLOv5/v7改进系列】替换上采样层为转置卷积
2401_84870184的博客
05-17 1146
转置卷积，又称为分数步长卷积或错位卷积，常用于上采样操作。
上采样-最近邻插值
jh__chen的博客
04-12 284
现在，对于目标图像中的每个像素，我们要找到在原始低分辨率图像中距离最近的像素。在这里，我们简单地将边缘像素的值复制到目标图像的相应位置。这样做的结果是图像变得更大，但由于没有利用周围像素的信息，导致图像质量相对较低，尤其是在图像中有锯齿状边缘和像素块的情况下。当我们使用最近邻插值方法对图像进行上采样时，我们首先要确定目标图像中每个像素的位置，然后找到在原始低分辨率图像中距离最近的像素，最后将该像素的值复制到目标像素中。现在，我们将原始图像中的每个像素的值复制到目标图像中的相应位置，得到了上采样后的图像。
【YOLOv5/v7改进系列】替换特征融合网络为AFPN
2401_84870184的博客
05-22 1372
介绍了一种新的特征金字塔网络结构——渐近特征金字塔网络（Asymptotic Feature Pyramid Network, AFPN），旨在解决目标检测任务中多尺度特征提取的问题，特别是非相邻层级间特征信息的损失和退化。
【图像处理】最近邻插值、双线性插值和双三次插值
mjiansun的专栏
12-28 1382
但是大家只是在用这个算法，很少关注这个算法的实现细节：插值算法是如何工作的。上图效果是最近邻法的计算过程示意图，由上图可见，最近邻法不需要计算只需要寻找原图中对应的点，所以最近邻法速度最快，但是会破坏原图像中像素的渐变关系，原图像中的像素点的值是渐变的，但是在新图像中局部破坏了这种渐变关系。最近邻法实际上是不需要计算新图像矩阵中点的数值的，直接找到原图像中对应的点，将数值赋值给新图像矩阵中的点，根据对应关系找到原图像中的对应的坐标，这个坐标可能不是整数，这时候找最近的点进行插值。
上采样之最近邻插值、双线性插值
jq_98的博客
04-04 1704
上采样之最近邻插值、双线性插值一、最近邻插值二、双线性插值 一、最近邻插值 设i+u, j+v(i, j为正整数， u, v为大于零小于1的小数，下同)为待求象素坐标，则待求象素灰度的值 f(i+u, j+v)。 如果(i+u, j+v)落在A区，即u<0.5, v<0.5，则将左上角象素的灰度值赋给待求象素，同理，落在B区则赋予右上角的象素灰度值，落在C区则赋予左下角象素的灰度值，落在D区则赋予右下角象素的灰度值。 最邻近元法计算量较小，但可能会造成插值生成的图像灰度上的不连续，在灰度变化
上采样（最近邻插值、双线性插值法、反池化、转置卷积）
YuanLei96的博客
04-18 1万+
一般图像分割的时候，需要对图像进行像素级别的分类，因此在卷积提取到抽象特征后需要通过上采样将feature map还原到原图大小，在FCN和U-net等网络中都提到了上采样的操作，这里会一些上采样的方法进行总结。
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